Laboratorios de ensayo

82 - Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y Análisis por Energía Dispersiva de Rayos X

OPI:	UAM
Centro:	Facultad de Ciencias
Departamento:	Servicio Interdepartamental de Investigación
Contacto:	Esperanza Salvador Rueda
Dirección:	Ciudad Universitaria de Cantoblanco. C/ Francisco Tomás y Valiente,7. Facultad de Ciencias. Módulo 13. 1ª planta
Código Postal:	28049
Localidad:	Cantoblanco
Teléfono:	91 4978639
Fax:	91 4973529
e-mail:	esperanza.salvador@uam.es
web:	www.uam.es/investigacion/servicios/sidi/especifica/barrido.html
Categoría:	Reconocimiento Externo	Reconocimiento:	AENOR ER-1423/2005
Información adicional:	El Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y Análisis por Energía Dispersiva de Rayos X forma parte del Servicio Interdepartamental de Investigación de la Universidad Autónoma de Madrid. Este Centro dispone de un sistema de calidad certificado por AENOR conforme a la norma ISO 9001:2000 (nº de registro ER-1423/2005). La microscopía electrónica de barrido es una técnica que nos da la posibilidad de observar la morfología de las muestras con unas imágenes que se basan en la topografía de las mismas. Es una tecnología que nos permite ver y estudiar superficies de área muy pequeña en cualquier tipo de material sin necesidad de preparaciones complicadas.

Químicos Muestra sólida y seca Analisis Químico Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Químicos Pigmentos pictóricos Analisis Químico Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Químicos Material Arqueológico Analisis Químico y visualización Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Químicos Nuevos materiales Analisis Químico y visualización Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Ensayos no destructivos Bacterias Visualización de muestras Microscopía Electrónica de Barrido Ensayos no destructivos Extractos de plantas Visualización de muestras Microscopía Electrónica de Barrido Ensayos no destructivos Pequeños seres vivos Visualización de muestras Microscopía Electrónica de Barrido Ensayos no destructivos Superficies tratadas Visualización de muestras y análisis químico Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Ensayos no destructivos Muestra sólida y seca Visualizacion Topográfica Microscopía Electrónica de Barrido Ensayos no destructivos Material Geológico Visualización y Análisis Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Ensayos no destructivos Mineral Visualización y Análisis Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Ensayos no destructivos Sistemas de limpieza Visualización y Análisis Microscopía Electrónica de Barrido + EDX Ensayos no destructivos Tuberías Visualización y Análisis Microscopía Electrónica de Barrido + EDX

	Microscopio Electrónico de Barrido con Análisis EDX Philips XL 30 Dx4i		30KV		-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Microscopio Electrónico de Barrido con Análisis EDX Philips XL 30 Dx4i		30KV		-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Sputter Bio-Rad SC 502				-		Metalización con Oro
	Sputter Bio-Rad SC 502				-		Metalización con Oro
	Punto Crítico Emitech K 850				-		Secado de muestras deshidratadas
	Punto Crítico Emitech K 850				-		Secado de muestras deshidratadas
	Sputter Polaron CC7650				-		Metalización con Grafito
	Sputter Polaron CC7650				-		Metalización con Grafito
	Microscopio Electrónico de Barrido Hitachi S-3000N Análisis EDX de Oxford sistema Incax-sight				-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Microscopio Electrónico de Barrido Hitachi S-3000N Análisis EDX de Oxford sistema Incax-sight				-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Microscopio Electrónico de Barrido con Análisis EDX Philips XL 30 Dx4i		30KV		-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Microscopio Electrónico de Barrido con Análisis EDX Philips XL 30 Dx4i		30KV		-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Sputter Bio-Rad SC 502				-		Metalización con Oro
	Sputter Bio-Rad SC 502				-		Metalización con Oro
	Punto Crítico Emitech K 850				-		Secado de muestras deshidratadas
	Punto Crítico Emitech K 850				-		Secado de muestras deshidratadas
	Sputter Polaron CC7650				-		Metalización con Grafito
	Sputter Polaron CC7650				-		Metalización con Grafito
	Microscopio Electrónico de Barrido Hitachi S-3000N Análisis EDX de Oxford sistema Incax-sight				-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental
	Microscopio Electrónico de Barrido Hitachi S-3000N Análisis EDX de Oxford sistema Incax-sight				-		Visualizacion con/sin analisis quimico elemental

A-34 Fisiología A-34 Fisiología A-41 Zoología A-41 Zoología B-03 Corrosión B-03 Corrosión U-14 Prehistoria U-14 Prehistoria Y-09 Análisis químicos Y-09 Análisis químicos A-34 Fisiología A-34 Fisiología A-41 Zoología A-41 Zoología B-03 Corrosión B-03 Corrosión U-14 Prehistoria U-14 Prehistoria Y-09 Análisis químicos Y-09 Análisis químicos