448 - Laboratorio de caracterización "Ramón Gancedo"
| OPI: |
CSIC |
| Centro: |
Instituto de Química Física "Rocasolano" |
| Departamento: |
|
 |
| Contacto: |
Juan de la Figuera Bayón |
| Dirección: |
C/ Serrano 119 |
| Código Postal: |
28006 |
| Localidad: |
Madrid |
| Teléfono: |
+34 91 561 9400 |
| Fax: |
+34 91 564 2431 |
| e-mail: |
juan.delafiguera@iqfr.csic.es |
| web: |
https://labrg.iqfr.csic.es |
| Categoría: |
( Sin evaluar )
|
| Información adicional: |
El Laboratorio de caracterización "Ramón Gancedo" ofrece servicios de caracterización en técnicas de análisis de superficies y espectroscopía Mössbauer, ofertado también a través del Catálogo de Servicios del CSIC. Actualmente ofrece las siguientes técnicas:
Espectroscopía de Mössbauer que proporciona información química, propiedades estructurales y magnéticas de átomos de hierro en muestras de polvo en modo de transmisión, con la posibilidad de adquirir espectros a temperatura variable entre ambiente y 25 K.
Espectroscopia Mössbauer que proporciona información química, propiedades estructurales y magnéticas de átomos de hierro en superficies y películas delgadas, mediante la detección y medición de electrones producidos por conversión interna a temperatura ambiente.
Análisis químico de la composición de la superficie (los últimos 3 nm) mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X de muestras de polvo o superficies de muestras, incluida la determinación del estado químico de los elementos.
Microscopía electrónica de baja energía de superficies. Esta técnica permite la observación in-situ en condiciones de ultra-alto vacío de muestras con resolución de 10nm, entre 100K y 1500K. Este microscopio es el único de España dedicado en exclusiva con electrones y el segundo de España tras el que se encuentra en el sincrotrón de Barcelona.
Otro equipo está dedicado a colaboraciones científicas e investigación dentro del Grupo de Análisis de Superficies y espectroscopía Mössbauer (SURFMOSS, https://surfmoss.iqfr.csic.es). Se recomienda contactar al grupo para posibles colaboraciones. |
| Tipo |
Producto |
Nombre |
Método |
 |
Ensayos no destructivos |
|
Productos sólidos |
|
Determinación de composición química |
|
Espectroscopía de fotoelectrónica de rayos X |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Recubrimientos metálicos |
|
Determinación de composición química |
|
Espectroscopía de fotoelectrónica de rayos X |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Recubrimientos no metálicos |
|
Determinación de composición química |
|
Espectroscopía de fotoelectrónica de rayos X |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Superficies tratadas |
|
Determinación de composición química |
|
Espectroscopía de fotoelectrónica de rayos X |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Productos sólidos |
|
Determinación de entorno químico de Fe |
|
Espectroscopía Mössbauer |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Recubrimientos metálicos |
|
Determinación de entorno químico de Fe |
|
Espectroscopía Mössbauer |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Recubrimientos no metálicos |
|
Determinación de entorno químico de Fe |
|
Espectroscopía Mössbauer |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Superficies tratadas |
|
Determinación de entorno químico de Fe |
|
Espectroscopía Mössbauer |
|
|
Ensayos no destructivos |
|
Superficies tratadas |
|
Microscopia con resolucion nanométrica |
|
Microscopía de electrones de baja energía |
|
|
|
Nombre
|
Rango
|
Incer
|
Observaciones
|
|
Microscopio ELMITEC-III |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Microscopio ELMITEC-III |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Sistema de caracterización para espectroscopía fotoelectrónica de rayos X |
|
Energia: 0..500 eV, Resolución 8 nm. |
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Sistema de caracterización para espectroscopía fotoelectrónica de rayos X |
|
Energia: 0..500 eV, Resolución 8 nm. |
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Espectrómetro Mössbauer para superficies y láminas delgadas (Transudctor MVT1000, Contador de avalancha de placas paralelas con acetona como gas de contaje, amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, Multicanal Wissel CMAC 550) |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas. |
|
Espectrómetro Mössbauer para superficies y láminas delgadas (Transudctor MVT1000, Contador de avalancha de placas paralelas con acetona como gas de contaje, amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, Multicanal Wissel CMAC 550) |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas. |
|
Espectrómetro Mössbauer de transmisión con criostato de ciclo cerrado de He (Air Products), transductor Wissel MVT-1000, contador proporcional LND-45431, Amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, y multicanal Wissel CMAC 550 |
|
|
|
- |
|
Para muestras en polvo. |
|
Espectrómetro Mössbauer de transmisión con criostato de ciclo cerrado de He (Air Products), transductor Wissel MVT-1000, contador proporcional LND-45431, Amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, y multicanal Wissel CMAC 550 |
|
|
|
- |
|
Para muestras en polvo. |
|
Microscopio ELMITEC-III |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Microscopio ELMITEC-III |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Sistema de caracterización para espectroscopía fotoelectrónica de rayos X |
|
Energia: 0..500 eV, Resolución 8 nm. |
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Sistema de caracterización para espectroscopía fotoelectrónica de rayos X |
|
Energia: 0..500 eV, Resolución 8 nm. |
|
- |
|
Para muestras planas conductoras. |
|
Espectrómetro Mössbauer para superficies y láminas delgadas (Transudctor MVT1000, Contador de avalancha de placas paralelas con acetona como gas de contaje, amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, Multicanal Wissel CMAC 550) |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas. |
|
Espectrómetro Mössbauer para superficies y láminas delgadas (Transudctor MVT1000, Contador de avalancha de placas paralelas con acetona como gas de contaje, amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, Multicanal Wissel CMAC 550) |
|
|
|
- |
|
Para muestras planas. |
|
Espectrómetro Mössbauer de transmisión con criostato de ciclo cerrado de He (Air Products), transductor Wissel MVT-1000, contador proporcional LND-45431, Amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, y multicanal Wissel CMAC 550 |
|
|
|
- |
|
Para muestras en polvo. |
|
Espectrómetro Mössbauer de transmisión con criostato de ciclo cerrado de He (Air Products), transductor Wissel MVT-1000, contador proporcional LND-45431, Amplificadores y fuentes de alimentación NIM de Canberra, y multicanal Wissel CMAC 550 |
|
|
|
- |
|
Para muestras en polvo. |
|
24.4 |
|
Fabricación de productos farmacéuticos |
|
24.4 |
|
Fabricación de productos farmacéuticos |
|
26.1 |
|
Fabricación de vidrio y productos de vidrio |
|
26.1 |
|
Fabricación de vidrio y productos de vidrio |
|
27.1 |
|
Fabricación de productos básicos, acero y ferroaleaciones CECA (Comunidad Económica del Carbón y del Acero) |
|
27.1 |
|
Fabricación de productos básicos, acero y ferroaleaciones CECA (Comunidad Económica del Carbón y del Acero) |
|
30 |
|
Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico |
|
30 |
|
Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico |
|
36.6 |
|
Otras industrias manufactureras diversas |
|
36.6 |
|
Otras industrias manufactureras diversas |
|
73 |
|
Investigación y desarrollo |
|
73 |
|
Investigación y desarrollo |
|
73.1 |
|
Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas |
|
73.1 |
|
Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas |
|
24.4 |
|
Fabricación de productos farmacéuticos |
|
24.4 |
|
Fabricación de productos farmacéuticos |
|
26.1 |
|
Fabricación de vidrio y productos de vidrio |
|
26.1 |
|
Fabricación de vidrio y productos de vidrio |
|
27.1 |
|
Fabricación de productos básicos, acero y ferroaleaciones CECA (Comunidad Económica del Carbón y del Acero) |
|
27.1 |
|
Fabricación de productos básicos, acero y ferroaleaciones CECA (Comunidad Económica del Carbón y del Acero) |
|
30 |
|
Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico |
|
30 |
|
Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico |
|
36.6 |
|
Otras industrias manufactureras diversas |
|
36.6 |
|
Otras industrias manufactureras diversas |
|
73 |
|
Investigación y desarrollo |
|
73 |
|
Investigación y desarrollo |
|
73.1 |
|
Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas |
|
73.1 |
|
Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas |
|
|
E- |
|
Materiales, Tecnologías de Fabricación |
|
E- |
|
Materiales, Tecnologías de Fabricación |
|
E-05 |
|
Química |
|
E-05 |
|
Química |
|
E-08 |
|
Recubrimientos, revestimientos |
|
E-08 |
|
Recubrimientos, revestimientos |
|
E-21 |
|
Manipulación de materiales |
|
E-21 |
|
Manipulación de materiales |
|
E-47 |
|
Mecanismos e instrumentos |
|
E-47 |
|
Mecanismos e instrumentos |
|
E- |
|
Materiales, Tecnologías de Fabricación |
|
E- |
|
Materiales, Tecnologías de Fabricación |
|
E-05 |
|
Química |
|
E-05 |
|
Química |
|
E-08 |
|
Recubrimientos, revestimientos |
|
E-08 |
|
Recubrimientos, revestimientos |
|
E-21 |
|
Manipulación de materiales |
|
E-21 |
|
Manipulación de materiales |
|
E-47 |
|
Mecanismos e instrumentos |
|
E-47 |
|
Mecanismos e instrumentos |
|
|
|
Red de Laboratorios e infraestructuras