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Microscopía electrónica de barrido-EDS-WDS |
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5V-30KV |
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- |
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Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-WDS |
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5V-30KV |
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- |
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Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-CL-CRIO CL |
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5V-30KV |
 |
- |
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Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-CL-CRIO CL |
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5V-30KV |
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- |
 |
Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Espectroscopía RAMAN-Láser 532 y 780-Rejilla extendida |
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532-780 |
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- |
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Todo tipo de material |
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Espectroscopía RAMAN-Láser 532 y 780-Rejilla extendida |
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532-780 |
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- |
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Todo tipo de material |
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Pletina calentamiento LINKAM-unida a RAMAN |
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-190 ºC HASTA 500 ºC |
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- |
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Todo tipo de material |
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Pletina calentamiento LINKAM-unida a RAMAN |
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-190 ºC HASTA 500 ºC |
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- |
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Todo tipo de material |
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ATD/TGA |
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25ºC-900ºC |
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- |
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Polvo |
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ATD/TGA |
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25ºC-900ºC |
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- |
 |
Polvo |
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Microscopía confocal espectral - Láser |
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Láser 488, 532, 635 |
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- |
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Preparaciones histológicas y material sólido |
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Microscopía confocal espectral - Láser |
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Láser 488, 532, 635 |
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- |
 |
Preparaciones histológicas y material sólido |
 |
Microscopía Óptica confocal LED- Interferometría y perfilometría |
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LED rojo-verde-azul y blando |
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- |
 |
Estudio de superficies - metrología ultrafina |
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Microscopía Óptica confocal LED- Interferometría y perfilometría |
 |
LED rojo-verde-azul y blando |
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- |
 |
Estudio de superficies - metrología ultrafina |
 |
CT SCAN-Tomografía computerizada de rayos X |
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Hasta 160 ºC |
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- |
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Todo tipo de material Rayos X |
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CT SCAN-Tomografía computerizada de rayos X |
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Hasta 160 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material Rayos X |
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Secador por punto crítico |
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Hasta 40 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Secador por punto crítico |
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Hasta 40 ºC |
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- |
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Todo tipo de material |
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Metalizador con oro |
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- |
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Todo tipo de material |
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Metalizador con oro |
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- |
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Todo tipo de material |
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Metalizador de carbono |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Metalizador de carbono |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-WDS |
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5V-30KV |
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- |
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Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-WDS |
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5V-30KV |
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- |
 |
Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-CL-CRIO CL |
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5V-30KV |
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- |
 |
Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Microscopía electrónica de barrido-EDS-CL-CRIO CL |
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5V-30KV |
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- |
 |
Todo tipo de material sólido y semisólido |
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Espectroscopía RAMAN-Láser 532 y 780-Rejilla extendida |
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532-780 |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Espectroscopía RAMAN-Láser 532 y 780-Rejilla extendida |
 |
532-780 |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Pletina calentamiento LINKAM-unida a RAMAN |
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-190 ºC HASTA 500 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Pletina calentamiento LINKAM-unida a RAMAN |
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-190 ºC HASTA 500 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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ATD/TGA |
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25ºC-900ºC |
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- |
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Polvo |
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ATD/TGA |
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25ºC-900ºC |
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- |
 |
Polvo |
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Microscopía confocal espectral - Láser |
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Láser 488, 532, 635 |
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- |
 |
Preparaciones histológicas y material sólido |
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Microscopía confocal espectral - Láser |
 |
Láser 488, 532, 635 |
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- |
 |
Preparaciones histológicas y material sólido |
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Microscopía Óptica confocal LED- Interferometría y perfilometría |
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LED rojo-verde-azul y blando |
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- |
 |
Estudio de superficies - metrología ultrafina |
 |
Microscopía Óptica confocal LED- Interferometría y perfilometría |
 |
LED rojo-verde-azul y blando |
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- |
 |
Estudio de superficies - metrología ultrafina |
 |
CT SCAN-Tomografía computerizada de rayos X |
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Hasta 160 ºC |
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- |
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Todo tipo de material Rayos X |
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CT SCAN-Tomografía computerizada de rayos X |
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Hasta 160 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material Rayos X |
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Secador por punto crítico |
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Hasta 40 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Secador por punto crítico |
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Hasta 40 ºC |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Metalizador con oro |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Metalizador con oro |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Metalizador de carbono |
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- |
 |
Todo tipo de material |
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Metalizador de carbono |
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- |
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Todo tipo de material |