Identificación de usuariosRed de Laboratorios e infraestructuras

Laboratorios de ensayo

 Laboratorios de calibración

364 - Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica


OPI: CSIC
Centro: Instituto de Catálisis y Petroleoquímica
Departamento:
Contacto: Cristina García Diego
Dirección: C/ Marie Curie nº 2 - Cantoblanco
Código Postal: 28049
Localidad: Madrid
Teléfono: 91 585 4634
Fax: 91 585 4760
e-mail: cristinagd@icp.csic.es
web: www.icp.csic.es/xps.php
Categoría: Reconocimiento Externo Reconocimiento: AENOR ER-0305/2008
Información adicional: Creado en el año 2010, el Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica es un servicio general del Instituto de Catálisis y Petroleoquímica del CSIC, cuya actividad consiste en la caracterización de superficies de sólidos (identificación de elementos, información sobre su estado de oxidación y concentración de los átomos en superficie) mediante las técnicas XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) y UPS (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy). El análisis de superficies de sólidos, orientado al trabajo científico y de investigación es fundamental en el estudio de sus propiedades mecánicas, físicas y químicas. Para ello, se dispone de un sistema de espectroscopía de fotoelectrones SPECS GmbH dotado de cámara de análisis con sistema UHV, fuentes de rayos X monocromática (con ánodo doble Al/Ag) y no monocromática (con ánodo doble Al/Mg), analizador de energía PHOIBOS 150 9MCD (detector multichanneltron de 9 canales), fuente de electrones para compensación de cargas fuente de fotones ultravioleta (para análisis UPS) y fuente de iones (para perfiles de profundidad). Este Servicio presta su apoyo analítico al personal investigador del Instituto de Catálisis y Petroleoquímica y restos de centros del CSIC, así como a Universidades, Centros de Investigación y Empresas u Organismos Privados que así lo soliciten. Desde el mes de marzo de 2014, el Servicio dispone de un Sistema de Gestión de la Calidad certificado por AENOR bajo la norma ISO 9001 (nº de registro ER-0180/2014).

Datos Ensayos
Tipo
Producto
Nombre
Método
Químicos Superficies sólidas Cuantificación de elementos en superficie de materiales sólidos Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS)
Químicos Superficies sólidas Determinación de elementos en superficie de materiales sólidos Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS)
Químicos Superficies sólidas Determinación de estados de oxidación de elementos en superficie de materiales sólidos Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS)
Químicos Superficies sólidas Elaboración de perfiles de profundidad Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS)
Químicos Superficies sólidas Estudio de la banda de valencia de la superficie de materiales sólidos Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS)

Datos Equipos
Nombre
Rango
Incer
Observaciones
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) 0 - 1500 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) 0 - 1500 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) e ion-gun 0 - 1500 eV para la fuente y hasta 1 um aprox. de profundidad - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) e ion-gun 0 - 1500 eV para la fuente y hasta 1 um aprox. de profundidad - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de fotones ultravioleta (UPS) 21.2 - 40.8 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de fotones ultravioleta (UPS) 21.2 - 40.8 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) 0 - 1500 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) 0 - 1500 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) e ion-gun 0 - 1500 eV para la fuente y hasta 1 um aprox. de profundidad - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) e ion-gun 0 - 1500 eV para la fuente y hasta 1 um aprox. de profundidad - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de fotones ultravioleta (UPS) 21.2 - 40.8 eV para la fuente - Para materiales sólidos
Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de fotones ultravioleta (UPS) 21.2 - 40.8 eV para la fuente - Para materiales sólidos

Códigos Cnae
Código
Descripción
24 Industria Química
24 Industria Química
25 Industrias de Transformación del Caucho y Materia Plástica
25 Industrias de Transformación del Caucho y Materia Plástica
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
74.3 Ensayos y análisis técnicos
74.3 Ensayos y análisis técnicos
24 Industria Química
24 Industria Química
25 Industrias de Transformación del Caucho y Materia Plástica
25 Industrias de Transformación del Caucho y Materia Plástica
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
74.3 Ensayos y análisis técnicos
74.3 Ensayos y análisis técnicos

Áreas Científicas
Código
Descripción
E-43 Tratamiento de superficies
E-43 Tratamiento de superficies
Y-09 Análisis químicos
Y-09 Análisis químicos
E-43 Tratamiento de superficies
E-43 Tratamiento de superficies
Y-09 Análisis químicos
Y-09 Análisis químicos