355 - SAI Difracción Rayos-X y Microscopia Electrónica de Barrido
OPI: |
USPCEU |
Centro: |
Facultad de Farmacia |
Departamento: |
|
![](/comun/images/1pix.gif) |
Contacto: |
Ulises Amador Elizondo |
Dirección: |
Avenida de Montepríncipe sn |
Código Postal: |
28668 |
Localidad: |
Boadilla del Monte |
Teléfono: |
913724757 |
Fax: |
|
e-mail: |
uamador@ceu.es |
web: |
www.uspceu.com |
Categoría: |
Trazabilidad
|
Información adicional: |
El Servicio de Difracción de Rayos-X y Microscopía Electrónica de Barrido (SAI DRX MEB) cuenta con más de diez años de experiencia prestando servicio en técnicas de difracción y microscopía, tanto a usuarios internos (en el marco de proyectos competitivos desarrollados en la Universidad), como a clientes externos de diferentes ámbitos del tejido productivo, no sólo de la Comunidad de Madrid, sino también de otras regiones. Los tipos de materiales estudiados son muy variados: desde cerámicas funcionales hasta composites de madera (con cargas inorgánicas), pasando por fármacos, metales y aleaciones, materiales de construcción y polímeros entre otros.
La amplia experiencia en ámbitos tan diferentes y la cualificación del personal a cargo del Servicio, garantiza la prestación de un servicio de excepcional calidad.
Las técnicas disponibles en el laboratorio permiten la caracterización estructural de sólidos por difracción de rayos-X que posibilita la determinación cuali y cuantitativa de mezclas de sustancias (diferentes o polimorfos de la misma sustancia). La microscopía electrónica de barrido permite la caracterización morfológica de las muestras, y el análisis por emisión de rayos-X la determinación proposicional de las muestras.
El laboratorio tiene una dilatada experiencia en la prestación de servicios que abarca todo tipo de materiales: fármacos (principios activos y comprimidos), materiales cerámicos estructurales, funcionales, materiales de construcción, polímeros, materiales para almacenamiento y producción de energía, etc. |
Tipo |
Producto |
Nombre |
Método |
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Físicos |
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Farmacéuticos: Productos |
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Determinación estructural y microestructural. |
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Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
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Físicos |
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Acero: Productos de |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
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Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
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Físicos |
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Aislantes eléctricos: Material |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
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Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
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Físicos |
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Armaduras de acero para hormigón |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
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Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
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Físicos |
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Baterías y células de energía |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
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Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
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![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Cemento y Productos de |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Cerámica y Productos de |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Comprimidos y gragéas |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Compuestos de silicio |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
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Físicos |
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Construcción: Productos |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Fundición: Materiales y Productos de |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Material Arqueológico |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Material Geológico |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
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Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
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Físicos |
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Materiales en película delgada |
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Determinación estructural, microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Físicos |
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Circuitos impresos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Determinación microestructural y composicional |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difracción de rayos-X, microscopia electronica de barrido y analisis |
![](/comun/images/shim.gif) |
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Nombre
|
Rango
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Incer
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Observaciones
|
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Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance monocromático con detector rápido de estado solido |
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Longitud de onada1.5406 A y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance monocromático con detector rápido de estado solido |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onada1.5406 A y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance portamuestra de 9 posiciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onda CuKa1+2 y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance portamuestra de 9 posiciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onda CuKa1+2 y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio electrónico de barrido FEI XL30 de presión controlada. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de voltaje 5-50 keV en cámara extendida (muestras grandes) y a presión reducida. |
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- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo tipo de muestras, incluidas biológicas que no se deterioran por no trabajar a alto vacío. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio electrónico de barrido FEI XL30 de presión controlada. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de voltaje 5-50 keV en cámara extendida (muestras grandes) y a presión reducida. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo tipo de muestras, incluidas biológicas que no se deterioran por no trabajar a alto vacío. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Analizador EDAX para determinación composicional. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de elementos desde el C en adelante. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Las muestras no necesitan recubrimiento evitándose enmascaramientos. |
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Analizador EDAX para determinación composicional. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de elementos desde el C en adelante. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Las muestras no necesitan recubrimiento evitándose enmascaramientos. |
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Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance monocromático con detector rápido de estado solido |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onada1.5406 A y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance monocromático con detector rápido de estado solido |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onada1.5406 A y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance portamuestra de 9 posiciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onda CuKa1+2 y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de rayos-X Bruker D8 Advance portamuestra de 9 posiciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
Longitud de onda CuKa1+2 y angulo 2theta entre 3-160º |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para todo tipo de materiales sólidos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio electrónico de barrido FEI XL30 de presión controlada. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de voltaje 5-50 keV en cámara extendida (muestras grandes) y a presión reducida. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo tipo de muestras, incluidas biológicas que no se deterioran por no trabajar a alto vacío. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio electrónico de barrido FEI XL30 de presión controlada. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de voltaje 5-50 keV en cámara extendida (muestras grandes) y a presión reducida. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo tipo de muestras, incluidas biológicas que no se deterioran por no trabajar a alto vacío. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Analizador EDAX para determinación composicional. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de elementos desde el C en adelante. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Las muestras no necesitan recubrimiento evitándose enmascaramientos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Analizador EDAX para determinación composicional. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de elementos desde el C en adelante. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Las muestras no necesitan recubrimiento evitándose enmascaramientos. |
![](/comun/images/shim.gif) |
11.1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de crudos de petróleo y gas natural |
![](/comun/images/shim.gif) |
11.1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de crudos de petróleo y gas natural |
![](/comun/images/shim.gif) |
14.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de arenas y arcillas |
![](/comun/images/shim.gif) |
14.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de arenas y arcillas |
![](/comun/images/shim.gif) |
24.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos farmacéuticos |
![](/comun/images/shim.gif) |
24.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos farmacéuticos |
![](/comun/images/shim.gif) |
26 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos |
![](/comun/images/shim.gif) |
26 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos |
![](/comun/images/shim.gif) |
26.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos cerámicos no refractarios excepto los destinados a la construcción; fabricación de productos cerámicos refractarios |
![](/comun/images/shim.gif) |
26.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos cerámicos no refractarios excepto los destinados a la construcción; fabricación de productos cerámicos refractarios |
![](/comun/images/shim.gif) |
31.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de acumuladores y pilas eléctricas |
![](/comun/images/shim.gif) |
31.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de acumuladores y pilas eléctricas |
![](/comun/images/shim.gif) |
11.1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de crudos de petróleo y gas natural |
![](/comun/images/shim.gif) |
11.1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de crudos de petróleo y gas natural |
![](/comun/images/shim.gif) |
14.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de arenas y arcillas |
![](/comun/images/shim.gif) |
14.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Extracción de arenas y arcillas |
![](/comun/images/shim.gif) |
24.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos farmacéuticos |
![](/comun/images/shim.gif) |
24.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos farmacéuticos |
![](/comun/images/shim.gif) |
26 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos |
![](/comun/images/shim.gif) |
26 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos |
![](/comun/images/shim.gif) |
26.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos cerámicos no refractarios excepto los destinados a la construcción; fabricación de productos cerámicos refractarios |
![](/comun/images/shim.gif) |
26.2 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de productos cerámicos no refractarios excepto los destinados a la construcción; fabricación de productos cerámicos refractarios |
![](/comun/images/shim.gif) |
31.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de acumuladores y pilas eléctricas |
![](/comun/images/shim.gif) |
31.4 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Fabricación de acumuladores y pilas eléctricas |
|
![](/comun/images/shim.gif) |
A-33 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Farmacia, farmacología |
![](/comun/images/shim.gif) |
A-33 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Farmacia, farmacología |
![](/comun/images/shim.gif) |
B-09 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Almacenamiento de energía |
![](/comun/images/shim.gif) |
B-09 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Almacenamiento de energía |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-04 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cerámica, vidrio |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-04 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cerámica, vidrio |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-05 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Química |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-05 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Química |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-08 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Recubrimientos, revestimientos |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-08 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Recubrimientos, revestimientos |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-25 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales , aleaciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-25 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales , aleaciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-31 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Polvos |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-31 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Polvos |
![](/comun/images/shim.gif) |
A-33 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Farmacia, farmacología |
![](/comun/images/shim.gif) |
A-33 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Farmacia, farmacología |
![](/comun/images/shim.gif) |
B-09 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Almacenamiento de energía |
![](/comun/images/shim.gif) |
B-09 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Almacenamiento de energía |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-04 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cerámica, vidrio |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-04 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cerámica, vidrio |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-05 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Química |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-05 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Química |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-08 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Recubrimientos, revestimientos |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-08 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Recubrimientos, revestimientos |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-25 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales , aleaciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-25 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales , aleaciones |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-31 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Polvos |
![](/comun/images/shim.gif) |
E-31 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Polvos |
|
|
|