320 - Servicio Espectroscopía Infrarroja
OPI: |
CSIC |
Centro: |
Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid |
Departamento: |
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Contacto: |
Pedro Mario Rodríguez-Pascual García |
Dirección: |
C/ Sor Juana Inés de la Cruz, nº3 |
Código Postal: |
28049 |
Localidad: |
Madrid |
Teléfono: |
91 3349000 ext. 161 |
Fax: |
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e-mail: |
pmario@icmm.csic.es |
web: |
https://www.icmm.csic.es/es/instituto/unidades-de-apoyo/espectroscopia-ir.php |
Categoría: |
Trazabilidad
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Información adicional: |
Se disponen de dos espectrofotómetros de infrarrojos operativos
- Nicolet FT-IR 20SXC (4000-400 cm-1)
- Bruker IFS 66V-S (10.000-50 cm-1)
Con ellos se pueden realizar medidas en muestras sólidas, pulverulentas y líquidas, mediante transmisión, y reflexión (especular, difusa y atenuada) en atmósfera de aire seco, nitrógeno y en vacío.
El rango espectral abarcado va desde el infrarrojo lejano (50 cm-1) hasta el visible (18.000 cm-1)
Se dispone, además, de un elipsómetro dispersivo SOPRA GES5E.provisto con una lámpara de Xe, que permite ajustar los ángulos de incidencia sobre la muestra, abarcando un rango espectral que va desde los 190 nm a los 2000 nm. Este elipsómetro es capaz de determinar el cambio del estado de polarización de un haz de luz polarizada producido por la reflexión sobre una superficie pulida.. El cambio en el estado de polarización de los rayos incidente y reflejado está determinado por dos ángulos (? y ?, que mide simultáneamente el elipsómetro) y que se relacionan con los parámetros físicos que caracterizan la superficie iluminada (espesor, índice de refracción y coeficiente de absorción). Permite mediciones fotométricas en transmisión. |
Tipo |
Producto |
Nombre |
Método |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Determinación de la Transmitancia/Absorbancia de los materiales |
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Espectroscopía por Transformada de Fourier |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Determinación de propiedades ópticas de los materiales(índice de refracción, coeficiente de extinción,...) |
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Elipsometría espectroscópica |
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Nombre
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Rango
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Incer
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Observaciones
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Bruker iFS 66v/S |
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10.000-50 cm-1 |
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- |
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Muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Bruker iFS 66v/S |
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10.000-50 cm-1 |
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- |
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Muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Nicolet 20 SXC |
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5000 a 400 cm-1 |
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- |
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muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Nicolet 20 SXC |
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5000 a 400 cm-1 |
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- |
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muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Elipsómetro SOPRA GES 5E |
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190 nm a los 2000 nm |
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- |
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Superficies pulidas |
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Elipsómetro SOPRA GES 5E |
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190 nm a los 2000 nm |
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- |
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Superficies pulidas |
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Bruker iFS 66v/S |
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10.000-50 cm-1 |
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- |
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Muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Bruker iFS 66v/S |
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10.000-50 cm-1 |
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- |
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Muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Nicolet 20 SXC |
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5000 a 400 cm-1 |
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- |
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muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Nicolet 20 SXC |
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5000 a 400 cm-1 |
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- |
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muestras sólidas, pulverulentas y líquidas |
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Elipsómetro SOPRA GES 5E |
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190 nm a los 2000 nm |
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- |
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Superficies pulidas |
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Elipsómetro SOPRA GES 5E |
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190 nm a los 2000 nm |
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- |
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Superficies pulidas |
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73 |
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Investigación y desarrollo |
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Investigación y desarrollo |
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73 |
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Investigación y desarrollo |
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73 |
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Investigación y desarrollo |
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A-34 |
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Fisiología |
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A-34 |
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Fisiología |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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A-34 |
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Fisiología |
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Fisiología |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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