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Espectro-radiómetro para caracterización de fuentes de luz. |
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250 nanómetros a 1100 nanómetros. |
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Spectro-radiómetro (Spectroradiometer GS 1252 Light Tec. Gamma Scientific), Sistema patrón de campo lejano (LUCA photometric bench, Light Tec. Opsira) y luxómetro/radiómetro (Radiometer/Photometer DR 2000-1 Light Tec. Gamma Scientific) |
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Espectro-radiómetro para caracterización de fuentes de luz. |
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250 nanómetros a 1100 nanómetros. |
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Spectro-radiómetro (Spectroradiometer GS 1252 Light Tec. Gamma Scientific), Sistema patrón de campo lejano (LUCA photometric bench, Light Tec. Opsira) y luxómetro/radiómetro (Radiometer/Photometer DR 2000-1 Light Tec. Gamma Scientific) |
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Fuente Senon para caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Espectro AM0 con filtro AM1.5. |
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Fuente Senon (96000 150 W Solar Simulator, Newport) para la caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Fuente Senon para caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Espectro AM0 con filtro AM1.5. |
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Fuente Senon (96000 150 W Solar Simulator, Newport) para la caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Escáneres láser 3D para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos |
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1 metro de diámetro con precisión de 8 micras |
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Escáners láser 3D (LDI 3D Scanner System Somatech, NextEngine Desktop 3D Scanner) y microscopio para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos. |
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Escáneres láser 3D para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos |
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1 metro de diámetro con precisión de 8 micras |
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Escáners láser 3D (LDI 3D Scanner System Somatech, NextEngine Desktop 3D Scanner) y microscopio para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos. |
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Seguidor solar de alta precisión para la medida y prueba de módulos fotovoltaicos de concentración. |
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Precisión de seguimiento de 0,1º. |
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Seguidor solar de alta precisión para la medida y prueba de módulos fotovoltaicos de concentración. |
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Precisión de seguimiento de 0,1º. |
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Módulo fotovoltaico de concentración de alto rendimiento. |
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25kW Precisión de seguimiento de 0,6º. |
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Instalación experimental de dos paneles fotovoltaicos con una capacidad de 12,5kW cada uno para probar el rendimiento a largo plazo dos tipos de células de conversión de las firmas SpectroLab y Solar Junction |
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Módulo fotovoltaico de concentración de alto rendimiento. |
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25kW Precisión de seguimiento de 0,6º. |
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Instalación experimental de dos paneles fotovoltaicos con una capacidad de 12,5kW cada uno para probar el rendimiento a largo plazo dos tipos de células de conversión de las firmas SpectroLab y Solar Junction |
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Rugosimetro MICROMEASURE 2 |
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Precisión de hasta 10nm en superficies planas |
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Medición de rugosidad de superficies. 3D Measuring system.Light Tec. Stil. Ideal para analizar las micro-rugosidades de superficies ópticas que normalmente producen dispersión de la luz. |
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Rugosimetro MICROMEASURE 2 |
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Precisión de hasta 10nm en superficies planas |
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Medición de rugosidad de superficies. 3D Measuring system.Light Tec. Stil. Ideal para analizar las micro-rugosidades de superficies ópticas que normalmente producen dispersión de la luz. |
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Espectro-radiómetro para caracterización de fuentes de luz. |
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250 nanómetros a 1100 nanómetros. |
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Spectro-radiómetro (Spectroradiometer GS 1252 Light Tec. Gamma Scientific), Sistema patrón de campo lejano (LUCA photometric bench, Light Tec. Opsira) y luxómetro/radiómetro (Radiometer/Photometer DR 2000-1 Light Tec. Gamma Scientific) |
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Espectro-radiómetro para caracterización de fuentes de luz. |
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250 nanómetros a 1100 nanómetros. |
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Spectro-radiómetro (Spectroradiometer GS 1252 Light Tec. Gamma Scientific), Sistema patrón de campo lejano (LUCA photometric bench, Light Tec. Opsira) y luxómetro/radiómetro (Radiometer/Photometer DR 2000-1 Light Tec. Gamma Scientific) |
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Fuente Senon para caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Espectro AM0 con filtro AM1.5. |
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Fuente Senon (96000 150 W Solar Simulator, Newport) para la caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Fuente Senon para caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Espectro AM0 con filtro AM1.5. |
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Fuente Senon (96000 150 W Solar Simulator, Newport) para la caracterización de propiedades ópticas de materiales. |
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Escáneres láser 3D para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos |
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1 metro de diámetro con precisión de 8 micras |
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Escáners láser 3D (LDI 3D Scanner System Somatech, NextEngine Desktop 3D Scanner) y microscopio para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos. |
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Escáneres láser 3D para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos |
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1 metro de diámetro con precisión de 8 micras |
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Escáners láser 3D (LDI 3D Scanner System Somatech, NextEngine Desktop 3D Scanner) y microscopio para analizar la calidad de fabricación de lentes y espejos. |
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Seguidor solar de alta precisión para la medida y prueba de módulos fotovoltaicos de concentración. |
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Precisión de seguimiento de 0,1º. |
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Seguidor solar de alta precisión para la medida y prueba de módulos fotovoltaicos de concentración. |
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Precisión de seguimiento de 0,1º. |
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Módulo fotovoltaico de concentración de alto rendimiento. |
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25kW Precisión de seguimiento de 0,6º. |
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Instalación experimental de dos paneles fotovoltaicos con una capacidad de 12,5kW cada uno para probar el rendimiento a largo plazo dos tipos de células de conversión de las firmas SpectroLab y Solar Junction |
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Módulo fotovoltaico de concentración de alto rendimiento. |
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25kW Precisión de seguimiento de 0,6º. |
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Instalación experimental de dos paneles fotovoltaicos con una capacidad de 12,5kW cada uno para probar el rendimiento a largo plazo dos tipos de células de conversión de las firmas SpectroLab y Solar Junction |
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Rugosimetro MICROMEASURE 2 |
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Precisión de hasta 10nm en superficies planas |
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Medición de rugosidad de superficies. 3D Measuring system.Light Tec. Stil. Ideal para analizar las micro-rugosidades de superficies ópticas que normalmente producen dispersión de la luz. |
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Rugosimetro MICROMEASURE 2 |
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Precisión de hasta 10nm en superficies planas |
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Medición de rugosidad de superficies. 3D Measuring system.Light Tec. Stil. Ideal para analizar las micro-rugosidades de superficies ópticas que normalmente producen dispersión de la luz. |