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269 - CAI de Difracción de Rayos X


OPI: UCM
Centro: Facultad de Ciencias Químicas
Departamento:
Contacto: José María González Calbet
Dirección: Ciudad Universitaria, s/n
Código Postal: 28040
Localidad: Madrid
Teléfono: 91 394 43 42
Fax: 91 394 43 52
e-mail: jgcalbet@quim.ucm.es
web: www.ucm.es/centros/webs/cai5084/
Categoría: Reconocimiento Externo Reconocimiento: AENOR ER-0135/2011
Información adicional: El CAI de Difracción de Rayos X consta de cuatro Secciones: una, en la Facultad de Farmacia, que desde hace dieciséis años está trabajando en el estudio de sólidos policristalinos, y otras tres, en la Facultad de Químicas. De estas tres secciones, hay una dedicada a la difracción de rayos X de monocristal, que viene funcionando activamente desde hace varios años, otra, creada a finales de 1995, dedicada, como en el caso de la sede de la Facultad de Farmacia, a la difracción de rayos X de polvo, y otra, creada el año 2000, que se dedica al análisis cuantitativo de muestras mediante fluorescencia de rayos X.

Datos Ensayos
Tipo
Producto
Nombre
Método
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Análisis cualitativo de fases cristalinas Difracción de Rayos X
Químicos Sólidos Análisis cualitativo y cuantitativo de elementos químicos Fluorescencia de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Análisis de fases en condiciones de alta y baja temperatura Difracción de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Análisis de fases en muestras con superficie rugosa o irregular Difracción de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Análisis de fases en películas delgadas Difracción de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Análisis de texturas y tensiones residuales Difracción de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Determinación de espesores en películas delgadas Difracción de rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos monocristalinos Determinación de estructuras cristalinas y moleculares Difracción de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Estimación de tamaño de cristalito Difracción de rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Medidas de “Small Angle X-Ray Scatering” de disoluciones y sólidos Difracción de rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Medidas de difracción de rayos X con radiación monocromática Difracción de Rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Refinado de estructuras cristalinas Difracción de rayos X
Ensayos no destructivos Sólidos policristalinos Reflectometría de rayos X Difracción de Rayos X

Datos Equipos
Nombre
Rango
Incer
Observaciones
Difractómetro Siemens D5000 Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo - Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo
Difractómetro Siemens D5000 Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo - Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual - Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual - Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura - Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC)
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura - Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC)
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante - Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría.
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante - Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría.
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas - Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC)
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas - Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC)
Cámara SAXS Hecus-Braun Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura - Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas
Cámara SAXS Hecus-Braun Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura - Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS De tres círculos. Con detector de área Smart CCD - Medida de monocristales
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS De tres círculos. Con detector de área Smart CCD - Medida de monocristales
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% - Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% - Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA Tubo de Molibdeno y detector CCD - Para monocristales y polvo en celdas de presión
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA Tubo de Molibdeno y detector CCD - Para monocristales y polvo en celdas de presión
Difractómetro Siemens D5000 Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo - Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo
Difractómetro Siemens D5000 Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo - Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda - Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual - Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual - Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura - Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC)
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura - Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC)
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante - Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría.
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante - Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría.
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas - Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC)
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas - Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC)
Cámara SAXS Hecus-Braun Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura - Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas
Cámara SAXS Hecus-Braun Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura - Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS De tres círculos. Con detector de área Smart CCD - Medida de monocristales
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS De tres círculos. Con detector de área Smart CCD - Medida de monocristales
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% - Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% - Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA Tubo de Molibdeno y detector CCD - Para monocristales y polvo en celdas de presión
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA Tubo de Molibdeno y detector CCD - Para monocristales y polvo en celdas de presión

Códigos Cnae
Código
Descripción
11 Extracción de crudos de petróleo y gas natural. Actividades de los servicios relacionados con las explotaciones petrolíferas y de gas, excepto actividades de prospección
11 Extracción de crudos de petróleo y gas natural. Actividades de los servicios relacionados con las explotaciones petrolíferas y de gas, excepto actividades de prospección
13 Extracción de minerales metálicos
13 Extracción de minerales metálicos
24 Industria Química
24 Industria Química
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
28.5 Tratamiento y revestimiento de metales. Ingeniería mecánica general por cuenta de terceros
28.5 Tratamiento y revestimiento de metales. Ingeniería mecánica general por cuenta de terceros
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
11 Extracción de crudos de petróleo y gas natural. Actividades de los servicios relacionados con las explotaciones petrolíferas y de gas, excepto actividades de prospección
11 Extracción de crudos de petróleo y gas natural. Actividades de los servicios relacionados con las explotaciones petrolíferas y de gas, excepto actividades de prospección
13 Extracción de minerales metálicos
13 Extracción de minerales metálicos
24 Industria Química
24 Industria Química
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
28.5 Tratamiento y revestimiento de metales. Ingeniería mecánica general por cuenta de terceros
28.5 Tratamiento y revestimiento de metales. Ingeniería mecánica general por cuenta de terceros
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas

Áreas Científicas
Código
Descripción
Y-90 Otras,Especificar
Y-90 Otras,Especificar
Y-90 Otras,Especificar
Y-90 Otras,Especificar