|
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
|
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
|
- |
|
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
|
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
|
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
|
- |
|
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
|
Horno de fusión por arco |
|
Hasta 3000 ºC |
|
- |
|
Preparación de aleaciones metálicas |
|
Horno de fusión por arco |
|
Hasta 3000 ºC |
|
- |
|
Preparación de aleaciones metálicas |
|
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
|
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
|
- |
|
Procesado y sinterizado de materiales |
|
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
|
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
|
- |
|
Procesado y sinterizado de materiales |
|
Molinos planetarios y de atricción |
|
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
|
- |
|
Procesado de polvo |
|
Molinos planetarios y de atricción |
|
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
|
- |
|
Procesado de polvo |
|
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
|
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
|
- |
|
Procesado de materiales |
|
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
|
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
|
- |
|
Procesado de materiales |
|
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
|
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
|
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
|
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
|
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Nano indentador y micro indentador |
|
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
|
- |
|
Dureza y tenacidad a fractura |
|
Nano indentador y micro indentador |
|
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
|
- |
|
Dureza y tenacidad a fractura |
|
Grindosonic |
|
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Grindosonic |
|
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
|
Cualquier coeficiente de desgaste |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
|
Cualquier coeficiente de desgaste |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
|
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
|
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
SThm mediante AFM |
|
Técnica semicuantitativa |
|
- |
|
Todos los materiales |
|
SThm mediante AFM |
|
Técnica semicuantitativa |
|
- |
|
Todos los materiales |
|
Caracterización de superficies por XPS |
|
Técnica analítica con resolución de ppm |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Caracterización de superficies por XPS |
|
Técnica analítica con resolución de ppm |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Microscopía óptica |
|
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Microscopía óptica |
|
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
|
100 ps-14000 ps |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
|
100 ps-14000 ps |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
|
0,5 KeV |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
|
0,5 KeV |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Picnómetro |
|
0,53-19,25 gr/cm3 |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Picnómetro |
|
0,53-19,25 gr/cm3 |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
|
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
|
- |
|
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
|
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
|
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
|
- |
|
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
|
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
|
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
|
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
|
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
|
- |
|
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
|
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
|
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
|
- |
|
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
|
Horno de fusión por arco |
|
Hasta 3000 ºC |
|
- |
|
Preparación de aleaciones metálicas |
|
Horno de fusión por arco |
|
Hasta 3000 ºC |
|
- |
|
Preparación de aleaciones metálicas |
|
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
|
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
|
- |
|
Procesado y sinterizado de materiales |
|
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
|
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
|
- |
|
Procesado y sinterizado de materiales |
|
Molinos planetarios y de atricción |
|
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
|
- |
|
Procesado de polvo |
|
Molinos planetarios y de atricción |
|
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
|
- |
|
Procesado de polvo |
|
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
|
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
|
- |
|
Procesado de materiales |
|
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
|
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
|
- |
|
Procesado de materiales |
|
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
|
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
|
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
|
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
|
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
|
- |
|
Caracterización mecánica |
|
Nano indentador y micro indentador |
|
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
|
- |
|
Dureza y tenacidad a fractura |
|
Nano indentador y micro indentador |
|
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
|
- |
|
Dureza y tenacidad a fractura |
|
Grindosonic |
|
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Grindosonic |
|
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
|
Cualquier coeficiente de desgaste |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
|
Cualquier coeficiente de desgaste |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
|
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
|
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
SThm mediante AFM |
|
Técnica semicuantitativa |
|
- |
|
Todos los materiales |
|
SThm mediante AFM |
|
Técnica semicuantitativa |
|
- |
|
Todos los materiales |
|
Caracterización de superficies por XPS |
|
Técnica analítica con resolución de ppm |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Caracterización de superficies por XPS |
|
Técnica analítica con resolución de ppm |
|
- |
|
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
|
Microscopía óptica |
|
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Microscopía óptica |
|
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
|
100 ps-14000 ps |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
|
100 ps-14000 ps |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
|
0,5 KeV |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
|
0,5 KeV |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Picnómetro |
|
0,53-19,25 gr/cm3 |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Picnómetro |
|
0,53-19,25 gr/cm3 |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
|
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
|
- |
|
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
|
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
|
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
|
- |
|
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
|
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
|
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |
|
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
|
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
|
- |
|
Todos los materiales sólidos |