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Microscopio Electrónico de Transmisión FEG |
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resolución mejor que 0.2nm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Microscopio Electrónico de Transmisión FEG |
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resolución mejor que 0.2nm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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EDX, Espectrómetro de rayos X |
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Nº atomico superior a 4 |
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- |
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Espectros de rayos X "in situ" |
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EDX, Espectrómetro de rayos X |
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Nº atomico superior a 4 |
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- |
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Espectros de rayos X "in situ" |
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Pulidora cóncava, Dimpler |
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100-20 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Pulidora cóncava, Dimpler |
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100-20 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Pulidora por bombardeo iónico, Ion mill |
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espesor menor 50 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Pulidora por bombardeo iónico, Ion mill |
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espesor menor 50 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Cortadora de ultrasonidos |
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discos de 3mm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Cortadora de ultrasonidos |
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discos de 3mm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Microscopio Electrónico de Transmisión FEG |
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resolución mejor que 0.2nm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Microscopio Electrónico de Transmisión FEG |
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resolución mejor que 0.2nm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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EDX, Espectrómetro de rayos X |
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Nº atomico superior a 4 |
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- |
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Espectros de rayos X "in situ" |
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EDX, Espectrómetro de rayos X |
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Nº atomico superior a 4 |
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- |
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Espectros de rayos X "in situ" |
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Pulidora cóncava, Dimpler |
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100-20 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Pulidora cóncava, Dimpler |
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100-20 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Pulidora por bombardeo iónico, Ion mill |
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espesor menor 50 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Pulidora por bombardeo iónico, Ion mill |
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espesor menor 50 micras |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Cortadora de ultrasonidos |
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discos de 3mm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |
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Cortadora de ultrasonidos |
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discos de 3mm |
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- |
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Todo tipo de materiales sólidos |