Laboratorios de ensayo

43 - Laboratorio de Difracción de Rayos X Policristal

OPI:	UAM
Centro:	Facultad de Ciencias
Departamento:	Servicio Interdepartamental de Investigación
Contacto:	Noemí González Díaz
Dirección:	Ciudad Universitaria de Cantoblanco. C/ Francisco Tomás y Valiente,7. Facultad de Ciencias. Módulo 13. 1ª planta
Código Postal:	28049
Localidad:	Madrid
Teléfono:	91 497 38 58
Fax:	91 497 35 29
e-mail:	noemi.gonzalez@uam.es
web:	www.uam.es/investigacion/servicios/sidi/especifica/policristal.html
Categoría:	Reconocimiento Externo	Reconocimiento:	AENOR ER-1423/2005
Información adicional:	El laboratorio de Difracción de Rayos X Policristal forma parte del Servicio Interdepartamental de Investigación de la Universidad Autónoma de Madrid. Este Centro dispone de un sistema de calidad certificado por AENOR conforme a la norma ISO:2000 (nº de registro ER-1423/2005) La difracción de rayos X es una técnica de caracterización estructural para muestras sólidas de estructura cristalina, basada en las interferencias constructivas cuando se hace incidir un haz de rayos X de una cierta longitud de onda del orden de las distancias interatómicas del sólido que se quiera estudiar. El diagrama de difracción de polvo de una sustancia es característico de la disposición u ordenamiento de los átomos que la componen. Es una huella de su estructura cristalina. Comparando los difractogramas experimentales con los patrones de difracción de las diferentes bases de datos cristalográficas podemos caracterizar el sólido cristalino por medio de un análisis cualitativo. Es posible también por el Método de Rietveld estudiar la estructura y realizar un análisis cuantitativo de fases.

Ensayos no destructivos Productos sólidos Identificación y caracterización de fases cristalinas Difracción de rayos X Físicos Recubrimientos metálicos Identificación y caracterización de fases cristalinas Difracción de rayos X Geológicos Mineral Identificación y caracterización de fases cristalinas Difracción de rayos X Químicos Productos químicos de síntesis Identificación y caracterización de fases cristalinas Difracción de rayos X

	Difractómetro SIEMENS D5000		de 1.2 hasta 140 grados		-		Múltiples materiales
	Difractómetro SIEMENS D5000		de 1.2 hasta 140 grados		-		Múltiples materiales
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/2theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cargador automático de muestras y detector rápido
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/2theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cargador automático de muestras y detector rápido
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cámara de alta temperatura y espejo para incidencia rasante
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cámara de alta temperatura y espejo para incidencia rasante
	Difractómetro SIEMENS D5000		de 1.2 hasta 140 grados		-		Múltiples materiales
	Difractómetro SIEMENS D5000		de 1.2 hasta 140 grados		-		Múltiples materiales
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/2theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cargador automático de muestras y detector rápido
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/2theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cargador automático de muestras y detector rápido
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cámara de alta temperatura y espejo para incidencia rasante
	Difractómetro X´Pert PRO, theta/theta, Panalytical		de 1º a 150º		-		Con cámara de alta temperatura y espejo para incidencia rasante