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Laboratorios de ensayo

 Laboratorios de calibración

379 - ICTS Centro Nacional de Microscopía Electrónica


OPI: UCM
Centro: Vicerrectorado de Investigación
Departamento:
Contacto: José María González Calbet
Dirección: Facultad de Ciencias Químicas. UCM
Código Postal: 28040
Localidad: Madrid
Teléfono: 913944188
Fax: 913944191
e-mail: jgcalbet@ucm.es
web: www.cnme.es
Categoría: Trazabilidad
Información adicional: El Centro Nacional de Microscopía Avanzada (Principal acción Transversal del Campus de Excelencia Internacional Moncloa), está diseñado, de acuerdo con el estudio realizado por la FECYT sobre Instalaciones Científico-Tecnológicas Singulares (ICTS) para desarrollar, implementar y ofertar a la comunidad científica nacional e internacional los métodos y técnicas más avanzados en microscopia electrónica de transmisión y barrido para el análisis estructural de materiales. Este Centro consta de una serie de microscopios de última generación, y de instrumentos y técnicas para la preparación avanzada de muestras, así como para la aplicación de métodos computacionales de tratamiento de imágenes. Para ser referente científico nacional e internacional, dichos microscopios, disponen de complementos técnicos-científicos que aumentan exponencialmente su potencial. Este tipo de instrumentos da al Centro una absoluta singularidad, ya que no existe un conjunto de técnicas de microscopía de este tipo en ningún laboratorio Español e Internacional y posibilita, por tanto, un trabajo coordinado y en las mejores condiciones metodológicas para todo el proceso de estudio, desde la preparación de muestras hasta el tratamiento matemático más avanzado para la resolución de estructuras.

Datos Ensayos
Tipo
Producto
Nombre
Método
Microscopía Acero: Productos de Análisis químico y estructural Microscopía electrónica y EDX
Microscopía Baterías y células de energía Análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Enzimas Análisis químico y estructural Microscopía electrónica SEM
Microscopía Material Geológico Análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Metales y aleaciones, férreos: Materiales y Productos Análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Metales y aleaciones, no férreos: Materiales y Productos Análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Metales y compuestos semiconductores Análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Armaduras de acero para hormigón Imágenes de microscopía electrónica Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Bacterias, Hongos Imágenes de microscopía electrónica Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Biomateriales Imágenes de microscopía electrónica, análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Compuestos de silicio Imágenes de microscopía electrónica, análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Farmacéuticos: Productos Imágenes de microscopía electrónica, análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Materiales en película delgada Imágenes de microscopía electrónica, análisis químico y estructural Microscopía electrónica de alta resolución. EDX
Microscopía Pigmentos para Industria Cerámica, textil, etc… Imágenes de microscopía electrónica, análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX
Microscopía Tejidos y cultivos celulares Imágenes de microscopía electrónica, análisis químico y estructural Microscopía electrónica TEM/SEM y EDX

Datos Equipos
Nombre
Rango
Incer
Observaciones
JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora - Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida
JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora - Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida
JEOL JEM 3000F - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 3000F - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2100 - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2100 - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2000FX - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2000FX - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 1010 - Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología)
JEOL JEM 1010 - Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología)
JEOL JSM7600F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM7600F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6335F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6335F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6400 - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6400 - Microscopía Electrónica de Barrido
PHILIPS CM200FEG - Microscopía Electrónica de Transmisión
PHILIPS CM200FEG - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL. Superprobe JXA-8900 M. - Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo
JEOL. Superprobe JXA-8900 M. - Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) - Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) - Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica
JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora - Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida
JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora - Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida
JEOL JEM 3000F - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 3000F - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2100 - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2100 - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2000FX - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 2000FX - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL JEM 1010 - Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología)
JEOL JEM 1010 - Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología)
JEOL JSM7600F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM7600F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6335F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6335F - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6400 - Microscopía Electrónica de Barrido
JEOL JSM 6400 - Microscopía Electrónica de Barrido
PHILIPS CM200FEG - Microscopía Electrónica de Transmisión
PHILIPS CM200FEG - Microscopía Electrónica de Transmisión
JEOL. Superprobe JXA-8900 M. - Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo
JEOL. Superprobe JXA-8900 M. - Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) - Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) - Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica

Códigos Cnae
Código
Descripción
10 Industrias Extractivas
10 Industrias Extractivas
24 Industria Química
24 Industria Química
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
45 Construcción
45 Construcción
73 Investigación y desarrollo
73 Investigación y desarrollo
74.3 Ensayos y análisis técnicos
74.3 Ensayos y análisis técnicos
80.3 Enseñanza superior
80.3 Enseñanza superior
10 Industrias Extractivas
10 Industrias Extractivas
24 Industria Química
24 Industria Química
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
26 Industrias de Otros Productos Minerales no Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
27 Metalurgia y Fabricación de Productos Metálicos
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
28 Fabricación de productos metálicos, excepto maquinaría y equipo
30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
45 Construcción
45 Construcción
73 Investigación y desarrollo
73 Investigación y desarrollo
74.3 Ensayos y análisis técnicos
74.3 Ensayos y análisis técnicos
80.3 Enseñanza superior
80.3 Enseñanza superior

Áreas Científicas
Código
Descripción
A- Biología, Medicina
A- Biología, Medicina
B- Energía
B- Energía
C- Medioambiente
C- Medioambiente
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E-04 Cerámica, vidrio
E-04 Cerámica, vidrio
E-05 Química
E-05 Química
E-20 Transferencia de materia
E-20 Transferencia de materia
H-07 Ingeniería industrial
H-07 Ingeniería industrial
Y- Otras Areas
Y- Otras Areas
Y-09 Análisis químicos
Y-09 Análisis químicos
A- Biología, Medicina
A- Biología, Medicina
B- Energía
B- Energía
C- Medioambiente
C- Medioambiente
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E-04 Cerámica, vidrio
E-04 Cerámica, vidrio
E-05 Química
E-05 Química
E-20 Transferencia de materia
E-20 Transferencia de materia
H-07 Ingeniería industrial
H-07 Ingeniería industrial
Y- Otras Areas
Y- Otras Areas
Y-09 Análisis químicos
Y-09 Análisis químicos