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JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora |
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- |
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Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida |
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JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora |
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Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida |
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JEOL JEM 3000F |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 3000F |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2100 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2100 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2000FX |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2000FX |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 1010 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología) |
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JEOL JEM 1010 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología) |
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JEOL JSM7600F |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM7600F |
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- |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6335F |
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- |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
 |
JEOL JSM 6335F |
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- |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6400 |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6400 |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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PHILIPS CM200FEG |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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PHILIPS CM200FEG |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL. Superprobe JXA-8900 M. |
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Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo |
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JEOL. Superprobe JXA-8900 M. |
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Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo |
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Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) |
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Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica |
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Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) |
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 |
Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica |
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JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora |
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Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida |
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JEOL JEM ARM200cF: Con aberración corregida en la lente condensadora |
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Microscopía Electrónica de Transmisión de alta resolución con aberración corregida |
 |
JEOL JEM 3000F |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 3000F |
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- |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2100 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2100 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2000FX |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 2000FX |
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- |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL JEM 1010 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología) |
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JEOL JEM 1010 |
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Microscopía Electrónica de Transmisión (Biología) |
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JEOL JSM7600F |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM7600F |
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- |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6335F |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6335F |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6400 |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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JEOL JSM 6400 |
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Microscopía Electrónica de Barrido |
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PHILIPS CM200FEG |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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PHILIPS CM200FEG |
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Microscopía Electrónica de Transmisión |
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JEOL. Superprobe JXA-8900 M. |
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Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo |
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JEOL. Superprobe JXA-8900 M. |
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Técnica de Análisis Cuantitativo y Cualitativo |
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Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) |
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Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica |
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Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) |
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Técnica de Análisis Superficial con Resolución Nanométrica |