Laboratorios de ensayo

351 - Laboratorio de Caracterización de Dispositivos Orgánicos (LABCADIO)

OPI:	URJC
Centro:	Escuela Superior de Ciencias Experimentales y Tecnología (ESCET)
Departamento:	Departamento de Matemática Aplicada, Ciencia e Ingeniería de los Materiales y Tecnología Electrónica
Contacto:	María del Carmen Coya Párraga
Dirección:	C/ Tulipán sn
Código Postal:	28933
Localidad:	Móstoles
Teléfono:	916647470
Fax:	914887049
e-mail:	carmen.coya@urjc.es
web:	http://www.oog.escet.urjc.es/labcadio.html
Categoría:	Aseguramiento Interno
Información adicional:	El trabajo de investigación realizados por el grupo de Optoelectrónica Orgánica de la URJC –OOG-(http://www.oog.escet.urjc.es) durante los últimos años, permiten proponer un nuevo laboratorio de características singulares dentro de la RedLAB, LABCADIO: Laboratorio de caracterización de Dispositivos Orgánicos. Dicho laboratorio integra las técnicas más relevantes de caracterización de OLEDs, transistores orgánicos y células solares orgánicas, además de una nueva técnica de litografía seca íntegramente desarrollada por nuestro grupo, que complementa las instalaciones existentes y dota a la URJC y al CAM de unas instalaciones singulares, únicas a nivel nacional. LABCADIO oferta a la comunidad científicas y empresas: - Servicio de diseño y fabricación de patrones por nanolitografía sin máscara basada en microdescarga eléctrica escalable a 10 x10 cm. - Servicio de microlitografía eléctrica selectiva sin máscara para ánodo y cátodo en dispositivos multicapa escalable a 10 x10 cm. Ancho de línea límite 15 um. - Servicio de perfilometría de contacto para evaluar espesores de láminas delgadas (>5 nm). - Servicio de caracterización 3D del relieve superficial en áreas de hasta 5.5 x 5.5 cm mediante perfilometría de contacto. - Servicio de caracterización de la radiancia espectral (luminancia) en el rango visible, y colorimetría (coordenadas CIE de color). - Caracterización eléctrica de I-Vs en dispositivos electrónicos en el rango 77-400K. LABCADIO se crea con los siguientes objetivos: - Apoyo a la docencia: Realización de las prácticas y proyectos fin de carrera de los alumnos de las diferentes titulaciones que lo soliciten. - Apoyo a la investigación. - Servicios técnico estratégicos a sectores privados, empresas y otras universidades.

Eléctricos Eléctricos/electrónicos: Componentes Característica voltaje-corriente Característica voltaje-corriente Ensayos no destructivos Materiales en película delgada Caracterización 3D relieve superficial Perfilometría de contacto Físicos Materiales en película delgada Determinación de espesores láminas Perfilometría de contacto Físicos Lamparas y equipos asociados Espectros de emision en coordenadas absolutas, W/Sr*nm*m2 Radiancia espectral Físicos Lamparas y equipos asociados Luminancia (Cd/m2), coordenadas de color CIE Colorimetría

	Sala blanca de 25 m2 clase 10000				-
	Sala blanca de 25 m2 clase 10000				-
	Perfilómetro de contacto AlphaStep D120 (KLA-Tencor Instruments)		horizontal 2 micras, vertical < 1 nm, recorrido 55x55mm		-		Muestras sólidas
	Perfilómetro de contacto AlphaStep D120 (KLA-Tencor Instruments)		horizontal 2 micras, vertical < 1 nm, recorrido 55x55mm		-		Muestras sólidas
	Estereomicroscopio MOTIC SMZ 168		(320X) con cámara digital de 5 Mp		-
	Estereomicroscopio MOTIC SMZ 168		(320X) con cámara digital de 5 Mp		-
	Nano-litografía seca: Sistema de nanolitografía por arco eléctrico				-		Microposicionador: rango100 x 100 um, sobre montura extensible a 10 x 10 cm y nanoposicionador:rango de 38 um, 0.05 nm resolución, sobre montura extensible a 3 cm. Metales y óxidos semiconductores en lámina delgada
	Nano-litografía seca: Sistema de nanolitografía por arco eléctrico				-		Microposicionador: rango100 x 100 um, sobre montura extensible a 10 x 10 cm y nanoposicionador:rango de 38 um, 0.05 nm resolución, sobre montura extensible a 3 cm. Metales y óxidos semiconductores en lámina delgada
	Espectrorradiómetro Konica Minolta CS-2000		380-750 nm, luminancias >10-3Cd/m2		-
	Espectrorradiómetro Konica Minolta CS-2000		380-750 nm, luminancias >10-3Cd/m2		-
	Analizador de parámetros de semiconductor Agilent4155C				-		10 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by functions
	Analizador de parámetros de semiconductor Agilent4155C				-		10 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by functions
	Generador de pulsos SMU Agilent 41501B				-
	Generador de pulsos SMU Agilent 41501B				-
	Amplificador TREK hasta 500V		0-500V		-
	Amplificador TREK hasta 500V		0-500V		-
	Generador de funciones arbitrarias TTI TG1010A				-
	Generador de funciones arbitrarias TTI TG1010A				-
	Vitrina de flujo laminar vertical TDI, clase 100, FLSR 150				-
	Vitrina de flujo laminar vertical TDI, clase 100, FLSR 150				-
	Criostato de baño de LN2 Helitran LT-30M, Lake Shore 331		Controlador de temperatura 77-400K		-
	Criostato de baño de LN2 Helitran LT-30M, Lake Shore 331		Controlador de temperatura 77-400K		-
	Multímetro digital programable, 6½ dígitos YOKOGAWA		1.5 GHz, 10 GS/s		-
	Multímetro digital programable, 6½ dígitos YOKOGAWA		1.5 GHz, 10 GS/s		-
	Osciloscopio digital YOKOGAWA 200MHz		200 MHz		-
	Osciloscopio digital YOKOGAWA 200MHz		200 MHz		-
	Sala blanca de 25 m2 clase 10000				-
	Sala blanca de 25 m2 clase 10000				-
	Perfilómetro de contacto AlphaStep D120 (KLA-Tencor Instruments)		horizontal 2 micras, vertical < 1 nm, recorrido 55x55mm		-		Muestras sólidas
	Perfilómetro de contacto AlphaStep D120 (KLA-Tencor Instruments)		horizontal 2 micras, vertical < 1 nm, recorrido 55x55mm		-		Muestras sólidas
	Estereomicroscopio MOTIC SMZ 168		(320X) con cámara digital de 5 Mp		-
	Estereomicroscopio MOTIC SMZ 168		(320X) con cámara digital de 5 Mp		-
	Nano-litografía seca: Sistema de nanolitografía por arco eléctrico				-		Microposicionador: rango100 x 100 um, sobre montura extensible a 10 x 10 cm y nanoposicionador:rango de 38 um, 0.05 nm resolución, sobre montura extensible a 3 cm. Metales y óxidos semiconductores en lámina delgada
	Nano-litografía seca: Sistema de nanolitografía por arco eléctrico				-		Microposicionador: rango100 x 100 um, sobre montura extensible a 10 x 10 cm y nanoposicionador:rango de 38 um, 0.05 nm resolución, sobre montura extensible a 3 cm. Metales y óxidos semiconductores en lámina delgada
	Espectrorradiómetro Konica Minolta CS-2000		380-750 nm, luminancias >10-3Cd/m2		-
	Espectrorradiómetro Konica Minolta CS-2000		380-750 nm, luminancias >10-3Cd/m2		-
	Analizador de parámetros de semiconductor Agilent4155C				-		10 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by functions
	Analizador de parámetros de semiconductor Agilent4155C				-		10 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by functions
	Generador de pulsos SMU Agilent 41501B				-
	Generador de pulsos SMU Agilent 41501B				-
	Amplificador TREK hasta 500V		0-500V		-
	Amplificador TREK hasta 500V		0-500V		-
	Generador de funciones arbitrarias TTI TG1010A				-
	Generador de funciones arbitrarias TTI TG1010A				-
	Vitrina de flujo laminar vertical TDI, clase 100, FLSR 150				-
	Vitrina de flujo laminar vertical TDI, clase 100, FLSR 150				-
	Criostato de baño de LN2 Helitran LT-30M, Lake Shore 331		Controlador de temperatura 77-400K		-
	Criostato de baño de LN2 Helitran LT-30M, Lake Shore 331		Controlador de temperatura 77-400K		-
	Multímetro digital programable, 6½ dígitos YOKOGAWA		1.5 GHz, 10 GS/s		-
	Multímetro digital programable, 6½ dígitos YOKOGAWA		1.5 GHz, 10 GS/s		-
	Osciloscopio digital YOKOGAWA 200MHz		200 MHz		-
	Osciloscopio digital YOKOGAWA 200MHz		200 MHz		-

30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico 30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico 80.3 Enseñanza superior 80.3 Enseñanza superior 30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico 30 Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico 80.3 Enseñanza superior 80.3 Enseñanza superior

B- Energía B- Energía B-06 Economía de la energía B-06 Economía de la energía B-07 Eficiencia energética/ conversión B-07 Eficiencia energética/ conversión B-21 Energía solar B-21 Energía solar D-23 Microelectrónica D-23 Microelectrónica D-27 Optoelectrónica D-27 Optoelectrónica E- Materiales, Tecnologías de Fabricación E- Materiales, Tecnologías de Fabricación E-11 Fabricación E-11 Fabricación E-23 Eliminación eléctrica de materiales E-23 Eliminación eléctrica de materiales E-47 Mecanismos e instrumentos E-47 Mecanismos e instrumentos B- Energía B- Energía B-06 Economía de la energía B-06 Economía de la energía B-07 Eficiencia energética/ conversión B-07 Eficiencia energética/ conversión B-21 Energía solar B-21 Energía solar D-23 Microelectrónica D-23 Microelectrónica D-27 Optoelectrónica D-27 Optoelectrónica E- Materiales, Tecnologías de Fabricación E- Materiales, Tecnologías de Fabricación E-11 Fabricación E-11 Fabricación E-23 Eliminación eléctrica de materiales E-23 Eliminación eléctrica de materiales E-47 Mecanismos e instrumentos E-47 Mecanismos e instrumentos