342 - Laboratorio de Microscopía Electrónica y Microanálisis, MicroLab
| OPI: |
CSIC |
| Centro: |
Instituto de Historia |
| Departamento: |
Arqueología y Procesos Sociales |
 |
| Contacto: |
Oscar García Vuelta |
| Dirección: |
C/ Albasanz, 26-28 |
| Código Postal: |
28037 |
| Localidad: |
Madrid |
| Teléfono: |
+34 91 602 2885 |
| Fax: |
|
| e-mail: |
oscar.gvuelta@cchs.csic.es |
| web: |
www.investigacion.cchs.csic.es/microlab/ |
| Categoría: |
Trazabilidad
|
| Información adicional: |
El laboratorio de Microscopía Electrónica y Microanálisis - MicroLab - fue creado en 2008 con el objetivo de promocionar la investigación científica en el área de la Arqueología. Para ello, el laboratorio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido que permite la observación a nivel microscópico de la estructura superficial y la topografía de las muestras. Además, el microscopio cuenta con un detector de rayos X (Energy Dispersive Spectrometer - EDX -) que posibilita la determinación de la composición elemental en zonas puntuales y del objeto en general. Asimismo, prestamos apoyo en la comprensión e interpretación de los datos analíticos para su correcta lectura en terminos históricos, sociales, artísticos y culturales.
La versatilidad de la técnica y las características del equipo permiten la observación y análisis de una gran diversidad de muestras, montadas o sin preparación alguna, orgánicas e inorgánicas, y de un tamaño relativamente grande (del orden de los cm). Entre los materiales que se pueden estudiar, podemos nombrar: metales, escorias, cerámica y vidrio, piedra, hueso, madera, carbón, restos palinológicos, restos carpológicos, etc.
MicroLab está abierto tanto para el personal del CSIC como para otras instituciones, públicas o privadas. Su principal campo de aplicación ha sido la arqueología pero gracias a las características de la técnica y del equipo, podemos prestar servicio a muchas otras áreas de las ciencias. |
| Tipo |
Producto |
Nombre |
Método |
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Ensayos no destructivos |
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Material Arqueológico |
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Determinación de la composición elemental |
|
MEB-EDX |
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|
Microscopía |
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Material Arqueológico |
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Preparación y observación de muestras a nivel micro-estructural y topográfico |
|
Microscopía Electrónica de Barrido, MEB |
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Nombre
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Rango
|
Incer
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Observaciones
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|
Microscopio Electrónica de Barrido de presión variable Hitachi 3400n |
|
Aceleración de voltaje variable hasta 30kV, 5X - 300.000X |
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- |
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Caracterización de la superficie de la muestra a nivel estructural y topográfico |
|
Microscopio Electrónica de Barrido de presión variable Hitachi 3400n |
|
Aceleración de voltaje variable hasta 30kV, 5X - 300.000X |
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- |
|
Caracterización de la superficie de la muestra a nivel estructural y topográfico |
|
Detector para micro-análisis de Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) Bruker, Quantax 4010 |
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Porcentaje en peso |
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- |
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Posibilidad de hacer mapping |
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Detector para micro-análisis de Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) Bruker, Quantax 4010 |
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Porcentaje en peso |
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- |
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Posibilidad de hacer mapping |
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Unidad metalización Grafito Emitech CA7625 |
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- |
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Unidad metalización Grafito Emitech CA7625 |
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- |
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Unidad metalización Au/Pd Polaron Range CA7620 |
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- |
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Unidad metalización Au/Pd Polaron Range CA7620 |
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- |
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Microscopio Electrónica de Barrido de presión variable Hitachi 3400n |
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Aceleración de voltaje variable hasta 30kV, 5X - 300.000X |
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- |
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Caracterización de la superficie de la muestra a nivel estructural y topográfico |
|
Microscopio Electrónica de Barrido de presión variable Hitachi 3400n |
|
Aceleración de voltaje variable hasta 30kV, 5X - 300.000X |
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- |
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Caracterización de la superficie de la muestra a nivel estructural y topográfico |
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Detector para micro-análisis de Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) Bruker, Quantax 4010 |
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Porcentaje en peso |
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- |
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Posibilidad de hacer mapping |
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Detector para micro-análisis de Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) Bruker, Quantax 4010 |
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Porcentaje en peso |
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- |
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Posibilidad de hacer mapping |
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Unidad metalización Grafito Emitech CA7625 |
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- |
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|
Unidad metalización Grafito Emitech CA7625 |
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- |
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Unidad metalización Au/Pd Polaron Range CA7620 |
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- |
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Unidad metalización Au/Pd Polaron Range CA7620 |
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- |
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73 |
|
Investigación y desarrollo |
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73 |
|
Investigación y desarrollo |
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74.3 |
|
Ensayos y análisis técnicos |
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74.3 |
|
Ensayos y análisis técnicos |
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80.3 |
|
Enseñanza superior |
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80.3 |
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Enseñanza superior |
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73 |
|
Investigación y desarrollo |
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73 |
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Investigación y desarrollo |
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74.3 |
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Ensayos y análisis técnicos |
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74.3 |
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Ensayos y análisis técnicos |
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80.3 |
|
Enseñanza superior |
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80.3 |
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Enseñanza superior |
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A- |
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Biología, Medicina |
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A- |
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Biología, Medicina |
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A-05 |
|
Antropología |
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A-05 |
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Antropología |
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E-04 |
|
Cerámica, vidrio |
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E-04 |
|
Cerámica, vidrio |
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E-25 |
|
Metales , aleaciones |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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E-27 |
|
Minería |
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E-27 |
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Minería |
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U-12 |
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Arqueología |
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U-12 |
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Arqueología |
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U-14 |
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Prehistoria |
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U-14 |
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Prehistoria |
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Y-04 |
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Física |
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Y-04 |
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Física |
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A- |
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Biología, Medicina |
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A- |
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Biología, Medicina |
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A-05 |
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Antropología |
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A-05 |
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Antropología |
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E-04 |
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Cerámica, vidrio |
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Cerámica, vidrio |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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Metales , aleaciones |
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E-27 |
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Minería |
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Minería |
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U-12 |
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Arqueología |
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Arqueología |
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U-14 |
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Prehistoria |
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Prehistoria |
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Y-04 |
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Física |
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Física |
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Red de Laboratorios e infraestructuras