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321 - Laboratorio de Microscopía Electrónica de Transmisión y Preparación de Muestras


OPI: CSIC
Centro: Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid
Departamento:
Contacto: Ángel Landa Cánovas
Dirección: C/ Sor Juana Inés de la Cruz, nº3
Código Postal: 28049
Localidad: Madrid
Teléfono: 913349012
Fax:
e-mail: landa@icmm.csic.es
web: www.icmm.csic.es/tem/
Categoría: Trazabilidad
Información adicional: El laboratorio está dedicado a la micro y nanocaracterización de materiales de muy diversos tipos (exceptuando los biológicos). Tiene instalado un microscopio electrónico de transmisión JEOL FX 2000 FX con un voltaje de aceleración de trabajo de 200 kV. Con este equipo se pueden caracterizar materiales desde un punto de vista morfológico y estructural con una resolución de 0,4 nanometros. Además se pueden obtener diagramas de difracción de electrones de áreas seleccionadas en diferentes orientaciones. Las imágenes y los diagramas de difracción se recogen mediante un sistema de placas digitales incluído en el microscopio, que se pueden posteriormente tratar con programas informáticos especializados. Dado que para estudiar un material en un microscopio electrónico de transmisión es necesario una preparación previa, el laboratorio tiene una sección adjunta con un sistema de adelgazamiento iónico por haces de iones - junto con una serie de equipos tales como cortador ultrasónico, sierra de diamante, adelgazador cóncavo, etc...-que sirve para obtener áreas de los materiales suficientemente delgadas para que puedan ser transparentes a los electrones. Este equipamiento permite estudiar tanto materiales en polvo como masivos, en forma de secciones planas o transversales. El laboratorio es utilizado habitualmente por la mayoría de los departamentos del instituto, otros Institutos del CSIC y algunos departamentos de la Universidad Autónoma de Madrid, en cuyo campus está instalado el Instituto ICMM. Esporádicamente es utilizado por grupos de la Universidad Complutense de Madrid, CIEMAT, y otras Universidades dentro del territorio nacional.

Datos Ensayos

Tipo
Producto
Nombre
Método
Microscopía Nuevos materiales Estudio de materiales por microscopía Microscopía electrónica TEM

Datos Equipos

Nombre
Rango
Incer
Observaciones
Microscopio electrónico de transmisión JEOL 200FX 200 kV / resolución: 0,4 nanometros - Para micro y nanocaracterización estructural de todo tipo de materiales inorgánicos
Microscopio electrónico de transmisión JEOL 200FX 200 kV / resolución: 0,4 nanometros - Para micro y nanocaracterización estructural de todo tipo de materiales inorgánicos
Cámara CCD acoplada a microscopio - Para Visionar imágenes producidas en microscopio
Cámara CCD acoplada a microscopio - Para Visionar imágenes producidas en microscopio
Goniómetro de doble giro acoplado a microscopio +/- 45º giro - Para orientación de las muestras
Goniómetro de doble giro acoplado a microscopio +/- 45º giro - Para orientación de las muestras
Sistema de adquisición de microfotografías digital (DITABIS) - Para recogida de imágenes del microscopio
Sistema de adquisición de microfotografías digital (DITABIS) - Para recogida de imágenes del microscopio
Sistema de digitalización de microfotografías (DITABIS) - Para digitalización de imágenes obtenidas en microscopio
Sistema de digitalización de microfotografías (DITABIS) - Para digitalización de imágenes obtenidas en microscopio
Adelgazador iónico por haces de iones Ar (FISCHIONE) 5-10kv aceleración iones - Adelgazamiento de materiales previo al visionado en microscopio electrónico
Adelgazador iónico por haces de iones Ar (FISCHIONE) 5-10kv aceleración iones - Adelgazamiento de materiales previo al visionado en microscopio electrónico
Cortador ultrasónico de discos Diámetro de 3 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Cortador ultrasónico de discos Diámetro de 3 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Cortadora de sierra diamante Cortes de 0,5 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Cortadora de sierra diamante Cortes de 0,5 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Adelgazador Cóncavo (Dimpler) Adelgazamiento previo hasta 50-70 micras - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Adelgazador Cóncavo (Dimpler) Adelgazamiento previo hasta 50-70 micras - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Microscopio electrónico de transmisión JEOL 200FX 200 kV / resolución: 0,4 nanometros - Para micro y nanocaracterización estructural de todo tipo de materiales inorgánicos
Microscopio electrónico de transmisión JEOL 200FX 200 kV / resolución: 0,4 nanometros - Para micro y nanocaracterización estructural de todo tipo de materiales inorgánicos
Cámara CCD acoplada a microscopio - Para Visionar imágenes producidas en microscopio
Cámara CCD acoplada a microscopio - Para Visionar imágenes producidas en microscopio
Goniómetro de doble giro acoplado a microscopio +/- 45º giro - Para orientación de las muestras
Goniómetro de doble giro acoplado a microscopio +/- 45º giro - Para orientación de las muestras
Sistema de adquisición de microfotografías digital (DITABIS) - Para recogida de imágenes del microscopio
Sistema de adquisición de microfotografías digital (DITABIS) - Para recogida de imágenes del microscopio
Sistema de digitalización de microfotografías (DITABIS) - Para digitalización de imágenes obtenidas en microscopio
Sistema de digitalización de microfotografías (DITABIS) - Para digitalización de imágenes obtenidas en microscopio
Adelgazador iónico por haces de iones Ar (FISCHIONE) 5-10kv aceleración iones - Adelgazamiento de materiales previo al visionado en microscopio electrónico
Adelgazador iónico por haces de iones Ar (FISCHIONE) 5-10kv aceleración iones - Adelgazamiento de materiales previo al visionado en microscopio electrónico
Cortador ultrasónico de discos Diámetro de 3 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Cortador ultrasónico de discos Diámetro de 3 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Cortadora de sierra diamante Cortes de 0,5 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Cortadora de sierra diamante Cortes de 0,5 mm - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Adelgazador Cóncavo (Dimpler) Adelgazamiento previo hasta 50-70 micras - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico
Adelgazador Cóncavo (Dimpler) Adelgazamiento previo hasta 50-70 micras - Preparación de materiales previa al adelgazamiento iónico

Códigos Cnae

Código
Descripción
73 Investigación y desarrollo
73 Investigación y desarrollo
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
80.3 Enseñanza superior
80.3 Enseñanza superior
73 Investigación y desarrollo
73 Investigación y desarrollo
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
80.3 Enseñanza superior
80.3 Enseñanza superior

Áreas Científicas

Código
Descripción
B- Energía
B- Energía
B-03 Corrosión
B-03 Corrosión
B-09 Almacenamiento de energía
B-09 Almacenamiento de energía
B-21 Energía solar
B-21 Energía solar
D- Tenologías de Información y Telecomunicación
D- Tenologías de Información y Telecomunicación
D-23 Microelectrónica
D-23 Microelectrónica
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
U-12 Arqueología
U-12 Arqueología
Y-04 Física
Y-04 Física
Y-09 Análisis químicos
Y-09 Análisis químicos
B- Energía
B- Energía
B-03 Corrosión
B-03 Corrosión
B-09 Almacenamiento de energía
B-09 Almacenamiento de energía
B-21 Energía solar
B-21 Energía solar
D- Tenologías de Información y Telecomunicación
D- Tenologías de Información y Telecomunicación
D-23 Microelectrónica
D-23 Microelectrónica
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
U-12 Arqueología
U-12 Arqueología
Y-04 Física
Y-04 Física
Y-09 Análisis químicos
Y-09 Análisis químicos