293 - Laboratorio de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
| OPI: |
IMDEANANO |
| Centro: |
Fundación IMDEA Nanociencia |
| Departamento: |
Nanociencia |
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| Contacto: |
Cristina Flors |
| Dirección: |
Campus Universitario de Cantoblanco, C/ Faraday, 9 |
| Código Postal: |
28049 |
| Localidad: |
Madrid |
| Teléfono: |
+34 912998767 |
| Fax: |
+34 91 2998725 |
| e-mail: |
afm.nanociencia@imdea.org |
| web: |
www.nanociencia.imdea.org |
| Categoría: |
Trazabilidad
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| Información adicional: |
El Laboratorio de Microscopia de Fuerzas Atómicas del IMDEA Nanociencia ofrece un servicio de caracterización estructural, eléctrica o magnética, con resolución nanométrica (unidades de milmillonésima de metro), de superficies de naturaleza muy diversa (metálica, polimérica, biológica...). Las medidas se pueden realizar en modo contacto, dinámico (tapping) o jumping (peak force), tanto en aire como en medio líquido. El servicio dispone de un AFM JPK, modelo Nanowizard II, que lleva acoplado un microscopio Nikon invertido, para realizar de forma simultánea medidas ópticas, incluyendo fluorescencia, y de AFM en muestras translúcidas. Dispone también de un segundo AFM que permite una caracterización eléctrica (medidas I-V, Microscopía de fuerza electrostática y de potencial superficial o KPFM), o magnética (Microscopía de fuerza magnética), así como medidas de indentación. Esta unidad científico-tecnológica ofrece un servicio multidisciplinar y dinámico a grupos de investigación, tanto integrando IMDEA Nanociencia como pertenecientes a otros organismos tales como otros centros de investigación o empresas privadas. |
| Tipo |
Producto |
Nombre |
Método |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización eléctrica |
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Medidas I-V, Medidas potencial superficial, medidas fuerza electrostática |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización estructural de contacto |
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Medidas en modo contacto de superficies y/o nano-estructuras al aire o en medio líquido |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización magnética |
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Medidas fuerza magnética en ausencia o no de campo magnético externo |
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Nombre
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Rango
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Incer
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Observaciones
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Microscopio de fluorescencia y AFM JPK,Nanowizard II |
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- |
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Medidas simultaneas de fluorescencia y AFM en sistemas biológicos |
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Microscopio de fluorescencia y AFM JPK,Nanowizard II |
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- |
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Medidas simultaneas de fluorescencia y AFM en sistemas biológicos |
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Microscopio de fluorescencia y AFM JPK,Nanowizard II |
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- |
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Medidas simultaneas de fluorescencia y AFM en sistemas biológicos |
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Microscopio de fluorescencia y AFM JPK,Nanowizard II |
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- |
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Medidas simultaneas de fluorescencia y AFM en sistemas biológicos |
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24.1 |
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Fabricación de productos químicos básicos |
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24.1 |
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Fabricación de productos químicos básicos |
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24.1 |
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Fabricación de productos químicos básicos |
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24.1 |
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Fabricación de productos químicos básicos |
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A-10 |
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Biofísica |
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A-10 |
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Biofísica |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E-15 |
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Inspección, pruebas |
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E-15 |
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Inspección, pruebas |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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E-30 |
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Polímeros |
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E-30 |
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Polímeros |
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A-10 |
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Biofísica |
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A-10 |
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Biofísica |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E-15 |
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Inspección, pruebas |
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E-15 |
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Inspección, pruebas |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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E-30 |
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Polímeros |
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E-30 |
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Polímeros |
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Red de Laboratorios e infraestructuras