![](/comun/images/shim.gif) |
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Horno de fusión por arco |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 3000 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Preparación de aleaciones metálicas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Horno de fusión por arco |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 3000 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Preparación de aleaciones metálicas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado y sinterizado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado y sinterizado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Molinos planetarios y de atricción |
![](/comun/images/shim.gif) |
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Molinos planetarios y de atricción |
![](/comun/images/shim.gif) |
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Nano indentador y micro indentador |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dureza y tenacidad a fractura |
![](/comun/images/shim.gif) |
Nano indentador y micro indentador |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dureza y tenacidad a fractura |
![](/comun/images/shim.gif) |
Grindosonic |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Grindosonic |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier coeficiente de desgaste |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier coeficiente de desgaste |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
SThm mediante AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica semicuantitativa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
SThm mediante AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica semicuantitativa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización de superficies por XPS |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica analítica con resolución de ppm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización de superficies por XPS |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica analítica con resolución de ppm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopía óptica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopía óptica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
100 ps-14000 ps |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
100 ps-14000 ps |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,5 KeV |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,5 KeV |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Picnómetro |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,53-19,25 gr/cm3 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Picnómetro |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,53-19,25 gr/cm3 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Consolidación isostática en caliente HIP (Hot Isostatic Pressin) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura 100-2000 ºC y presión hasta 200 Mpa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Metales y cerámicos (Fabricación y procesado) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Horno de fusión por arco |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 3000 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Preparación de aleaciones metálicas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Horno de fusión por arco |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 3000 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Preparación de aleaciones metálicas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado y sinterizado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hornos de vacío y atmósfera controlada |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 1800 ºC en atmósfera controlada y vacío |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado y sinterizado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Molinos planetarios y de atricción |
![](/comun/images/shim.gif) |
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Molinos planetarios y de atricción |
![](/comun/images/shim.gif) |
Capacidad máxima 2 litros. Velocidad máxima 800 rpm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de extrusión angular en caliente hasta 700 ºC (ECAE) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Temperatura máxima 700 ºC. Fuerza máxima 200 KN |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Procesado de materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos mecánicos de tracción y compresión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 100 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Máquina de ensayos de fluencia y flexión hasta 650 ºC y 25 kN |
![](/comun/images/shim.gif) |
Hasta 25 KN y temperaturas máximas de 650 ºC |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización mecánica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Nano indentador y micro indentador |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dureza y tenacidad a fractura |
![](/comun/images/shim.gif) |
Nano indentador y micro indentador |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todo material por debajo de dura Mohs 10 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dureza y tenacidad a fractura |
![](/comun/images/shim.gif) |
Grindosonic |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Grindosonic |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquiera.Rangos típicos 10 GPa-500 GPa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier coeficiente de desgaste |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tribómetro Pin-On Disk con potenciostato |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier coeficiente de desgaste |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopio de fuerzas atómicas AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango Z máximo 25 micras resolucnión nanométrica |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
SThm mediante AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica semicuantitativa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
SThm mediante AFM |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica semicuantitativa |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización de superficies por XPS |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica analítica con resolución de ppm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Caracterización de superficies por XPS |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica analítica con resolución de ppm |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Aleaciones metálicas (férreas y no férreas), materiales cerámicos, polímeros, semiconductores y composites |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopía óptica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Microscopía óptica |
![](/comun/images/shim.gif) |
Técnica cualitativa. Cuantitativa con análisis de imagen |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
100 ps-14000 ps |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro de vidas medias de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
100 ps-14000 ps |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,5 KeV |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometro Doppler en coincidencia de aniquilación de positrones |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,5 KeV |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Picnómetro |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,53-19,25 gr/cm3 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Picnómetro |
![](/comun/images/shim.gif) |
0,53-19,25 gr/cm3 |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrometros de absorcción y luminiscencia |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectroscopia de absorcción y luminiscencia. |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cualquier tipo de material (incluidos líquidos) que emita, absorba o refleje la luz dentro de los rangos permitidos por los equipos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro de impedancias complejas AGILEN 4294-A |
![](/comun/images/shim.gif) |
Rango de frecuencias: 40 Hz- 100 MHz |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Todos los materiales sólidos |