![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Siemens D5000 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Siemens D5000 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cámara SAXS Hecus-Braun |
![](/comun/images/shim.gif) |
Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cámara SAXS Hecus-Braun |
![](/comun/images/shim.gif) |
Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS |
![](/comun/images/shim.gif) |
De tres círculos. Con detector de área Smart CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medida de monocristales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS |
![](/comun/images/shim.gif) |
De tres círculos. Con detector de área Smart CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medida de monocristales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tubo de Molibdeno y detector CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para monocristales y polvo en celdas de presión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tubo de Molibdeno y detector CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para monocristales y polvo en celdas de presión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Siemens D5000 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Siemens D5000 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano con tubo de Cu, monocromador secundario y detector de centelleo |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestras en polvo |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro con dos goniómetros th-2th. Cambiador automático y plataforma multipropósito |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO Alpha1 |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-2th.Diferentes configuraciones y longitudes de onda |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional en muestras en polvo y piezas. Medidas para análisis cristalográfico por reflexión y transmisión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO MRD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro horizontal de alta resolución. Cuna euleriana. Foco lineal y puntual |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas texturas, tensiones residuales, reflectometría, películas delgadas, curvas rocking, mapeado xy en superficies grandes |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert PRO TT |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Bragg-Brentano en configuración th/th. Plataformas de alta y baja temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencional sobre muestra en polvo. Medidas de temperatura: baja (desde 20K a ambiente) y alta (ambiente a 2300ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Dos goniómetros th-2th. Plataforma multipropósito y dispositivo de incidencia rasante |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Análisis de fases convencionalen muestras en polvo y piezas. Análisis de fases en películas delgadas. Medidas de reflectometría. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X’Pert MPD |
![](/comun/images/shim.gif) |
Goniómetro th-th.Plataforma de alta temperatura. Diferentes óptica y plataformas |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras en polvo y piezas irregulares. Transmisión en capilares y láminas. Microdifracción por reflexión. Alta temperartura (hasta 1200ºC) |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cámara SAXS Hecus-Braun |
![](/comun/images/shim.gif) |
Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Cámara SAXS Hecus-Braun |
![](/comun/images/shim.gif) |
Basada en cámara Kratky. Incorpora detector sensible a posición y control de temperatura |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medidas de dispersión de rayos X a bajo ángulo. Muestras sólidas y liquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS |
![](/comun/images/shim.gif) |
De tres círculos. Con detector de área Smart CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medida de monocristales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Bruker AXS |
![](/comun/images/shim.gif) |
De tres círculos. Con detector de área Smart CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Medida de monocristales |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Espectrómetro Fluorescencia de Rayos X A?ios de PANalytical. |
![](/comun/images/shim.gif) |
Elementos desde berilio hasta uranio. Concentraciones: desde ppm hasta 100% |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para muestras sólidas, en polvo, y líquidas |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tubo de Molibdeno y detector CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para monocristales y polvo en celdas de presión |
![](/comun/images/shim.gif) |
Difractómetro de Monocristal Oxford Diffraction Modelo XcaliburA |
![](/comun/images/shim.gif) |
Tubo de Molibdeno y detector CCD |
![](/comun/images/shim.gif) |
- |
![](/comun/images/shim.gif) |
Para monocristales y polvo en celdas de presión |