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265 - Laboratorio de Microscopía de Campo Cercano


OPI: CSIC
Centro: Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid
Departamento: Propiedades Magnéticas, Ópticas y de Transporte
Contacto: Agustina Asenjo
Dirección: Sor Juana Inés de la Cruz, nº 3
Código Postal: 28049
Localidad: Madrid
Teléfono: 913348990
Fax: 913720623
e-mail: aasenjo@icmm.csic.es
web: https://icmm.csic.es/es/instituto/unidades-de-apoyo/microscopia-de-campo-cercano.php
Categoría: Trazabilidad
Información adicional: El Laboratorio de Microscopía de Campo Próximo del ICMM es un servicio tanto interno como externo que proporciona una herramienta de caracterización de superficies en diferentes ramas de la investigación. Las instalaciones del servicio son un Microscopio de Fuerzas Atómicas Magnéticas y magnéticas (AFM-MFM) de Nanotec electrónica y un nuevo equipo de Microscopía de Fuerzas Magnéticas operando en alto vacío.Este sistema AFM- MFM puede emplearse para caracterizar diferentes propiedades de superficie: propiedades topográficas, propiedades magnéticas operando en modo MFM, propiedades eléctricas, mecánicas, etc. El sistema puede trabajar en diferentes condiciones de medida: ambiente, gases, humedad controlada, alto vacío (HV) y bajas temperaturas (LT). Así mismo, es posible la aplicación simultanea de campos magnéticos hasta 0.1 T en el plano de las muestras y en la dirección axial.

Datos Ensayos
Tipo
Producto
Nombre
Método
Microscopía Análisis de superficies Microscopía AFM (Atomic Force Microscopy)
Microscopía Análisis del tamaño de grano Microscopía AFM (Atomic Force Microscopy)
Microscopía Metales y compuestos semiconductores Estudio de propiedades eléctricas y de conducción en superficie Microscopía AFM (Atomic Force Microscopy)
Microscopía Materiales magnéticos Estudio de propiedades magnéticas en superficie Microscopía AFM (Atomic Force Microscopy)
Microscopía Estudio de rugosidad Microscopía AFM (Atomic Force Microscopy)
Microscopía Materiales magnéticos Procesos de imanación en superficie Microscopía MFM con campo variable (Variable Field Magnetic Force Microscopy)

Datos Equipos
Nombre
Rango
Incer
Observaciones
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas y mecánicas (nanoindentaciones)
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas y mecánicas (nanoindentaciones)
Microscopio de Fuerzas Magnéticas (VF- MFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización Magnética. Posibilidad de aplicar campo en dos direcciones (hasta 0.1 T)
Microscopio de Fuerzas Magnéticas (VF- MFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización Magnética. Posibilidad de aplicar campo en dos direcciones (hasta 0.1 T)
Microsocopio de Fuerzas Atómicas en alto vacío (HV- AFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas
Microsocopio de Fuerzas Atómicas en alto vacío (HV- AFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas
Microscopio de Fuerzas Magnéticas en alto vaciío (HV- MFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización magnética bajo campo aplicado
Microscopio de Fuerzas Magnéticas en alto vaciío (HV- MFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización magnética bajo campo aplicado
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas y mecánicas (nanoindentaciones)
Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas y mecánicas (nanoindentaciones)
Microscopio de Fuerzas Magnéticas (VF- MFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización Magnética. Posibilidad de aplicar campo en dos direcciones (hasta 0.1 T)
Microscopio de Fuerzas Magnéticas (VF- MFM) Muestras de hasta 30mm de diámetro.Barridos máximos de 45 micras - Ambiente, gases, humedad controlada. Caracterización Magnética. Posibilidad de aplicar campo en dos direcciones (hasta 0.1 T)
Microsocopio de Fuerzas Atómicas en alto vacío (HV- AFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas
Microsocopio de Fuerzas Atómicas en alto vacío (HV- AFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización topográfica. Propiedades eléctricas
Microscopio de Fuerzas Magnéticas en alto vaciío (HV- MFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización magnética bajo campo aplicado
Microscopio de Fuerzas Magnéticas en alto vaciío (HV- MFM) Muestras de hasta 15 mm de diámetro.Barridos máximos de hasta 45 micras. - Alto vacío. Mayor sensibilidad. Caracterización magnética bajo campo aplicado

Códigos Cnae
Código
Descripción
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas
73.1 Investigación y desarrollo sobre ciencias naturales y técnicas

Áreas Científicas
Código
Descripción
D- Tenologías de Información y Telecomunicación
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E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
Y-04 Física
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D- Tenologías de Información y Telecomunicación
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E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
E- Materiales, Tecnologías de Fabricación
Y-04 Física
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