171 - Centro de Micro Análisis de Materiales (CMAM)

OPI:	UAM
Centro:	Centro de Micro-Análisis de Materiales (CMAM)
Departamento:

Contacto:	Gastón García López
Dirección:	C/ Faraday, 3 Campus de Cantoblanco
Código Postal:	28049
Localidad:	Madrid
Teléfono:	91 497 3660
Fax:	914973623
e-mail:	director.cmam@uam.es
web:	www.cmam.uam.es
Categoría:	Reconocimiento Externo	Reconocimiento:	SGS ES12/11402
Información adicional:	El CMAM alberga el mayor acelerador de iones electrostático tipo tándem de España, con una tensión máxima en el terminal de 5MV y un rizado de menos de 50V. Dispone de dos fuentes de iones capaces de producir haces de, prácticamente, cualquier elemento de la tabla periodica. Para aprovechar estas características, el centro dispone de 4 líneas de haz en funcionamiento: - Una línea de uso general para técnicas clásicas con haces de iones (RBS, ERDA, NRA, IBMM) - Una línea de microhaz externo para estudios de muestras a presión atmosférica - Una linea dedicada a estudios de física nuclear y prueba de instrumentación novedosa - Una línea de Tiempo de Vuelo, especialmente preparada para la técnica de ERDA-ToF Además dispone de una serie de laboratorios auxiliares para la preparación y/o caracterización complementaria de muestras.

Datos Ensayos

Tipo

Producto

Nombre

Método

Ambientales	Muestras de aire	Caracteización de aerosoles ambientales	< Sin especificar >
Físicos	Metales y aleaciones, no férreos: Materiales y Productos	Determinación de estructura y composición de peliculas delgadas	< Sin especificar >
Ensayos no destructivos	Cerámica y Productos de	Determinación de estructura y composoción de materiales de interes magnetico y optico, modificacion de los materiales mediante tecnicas de irradiación	< Sin especificar >
Ensayos no destructivos	Baterías y células de energía	Determinación de estructura y composoción en materiales fotovoltaicos	< Sin especificar >

Datos Equipos

Nombre

Rango

Incer

Observaciones

Haces de iones de baja energía	20KeV	-	Estudio de la estructura y composición de laminas superficiales
Haces de iones de baja energía	20KeV	-	Estudio de la estructura y composición de laminas superficiales
Haces de iones de alta energía	50 MeV	-	Estudio de la estructura y composición asi como modificación de péliculas mediante implantación
Haces de iones de alta energía	50 MeV	-	Estudio de la estructura y composición asi como modificación de péliculas mediante implantación
Espectroscopia Mössbauer		-	Caracterización de la estructura de peliculas delgadas
Espectroscopia Mössbauer		-	Caracterización de la estructura de peliculas delgadas
Microscopia Túnel		-	Cracterización atómica de superfecies metalicas
Microscopia Túnel		-	Cracterización atómica de superfecies metalicas
Lines de Microhaz		-	Estudio de objetos arqueológicos y de arte
Lines de Microhaz		-	Estudio de objetos arqueológicos y de arte
Haces de iones de baja energía	20KeV	-	Estudio de la estructura y composición de laminas superficiales
Haces de iones de baja energía	20KeV	-	Estudio de la estructura y composición de laminas superficiales
Haces de iones de alta energía	50 MeV	-	Estudio de la estructura y composición asi como modificación de péliculas mediante implantación
Haces de iones de alta energía	50 MeV	-	Estudio de la estructura y composición asi como modificación de péliculas mediante implantación
Espectroscopia Mössbauer		-	Caracterización de la estructura de peliculas delgadas
Espectroscopia Mössbauer		-	Caracterización de la estructura de peliculas delgadas
Microscopia Túnel		-	Cracterización atómica de superfecies metalicas
Microscopia Túnel		-	Cracterización atómica de superfecies metalicas
Lines de Microhaz		-	Estudio de objetos arqueológicos y de arte
Lines de Microhaz		-	Estudio de objetos arqueológicos y de arte

Códigos Cnae

Código

Descripción

	30		Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
	30		Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
	30		Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico
	30		Industrias de Material y Equipo Eléctrico, Electrónico y Optico

Áreas Científicas

Código

Descripción

	C-22		Ciencia de la radiación
	C-22		Ciencia de la radiación
	C-30		Impacto Ambiental
	C-30		Impacto Ambiental
	E-08		Recubrimientos, revestimientos
	E-08		Recubrimientos, revestimientos
	U-12		Arqueología
	U-12		Arqueología
	Y-03		Astronomía
	Y-03		Astronomía
	C-22		Ciencia de la radiación
	C-22		Ciencia de la radiación
	C-30		Impacto Ambiental
	C-30		Impacto Ambiental
	E-08		Recubrimientos, revestimientos
	E-08		Recubrimientos, revestimientos
	U-12		Arqueología
	U-12		Arqueología
	Y-03		Astronomía
	Y-03		Astronomía

Laboratorios de ensayo

171 - Centro de Micro Análisis de Materiales (CMAM)