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Espectrofotómetro UV/VIS/NIR |
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Para materiales en película delgada |
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Espectrofotómetro UV/VIS/NIR |
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Para materiales en película delgada |
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Planta de evaporación térmica |
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Para materiales metálicos y compuestos semiconductores |
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Planta de evaporación térmica |
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Para materiales metálicos y compuestos semiconductores |
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Planta de pulverización catódica |
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Para metales y óxidos conductores transparentes |
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Planta de pulverización catódica |
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Para metales y óxidos conductores transparentes |
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Sistema de determinación de propiedades eléctricas |
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Para materiales en película delgada |
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Sistema de determinación de propiedades eléctricas |
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Para materiales en película delgada |
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Planta de deposición química en vacío |
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Para compuestos de silicio |
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Planta de deposición química en vacío |
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Para compuestos de silicio |
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Perfilómetro |
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Para materiales en película delgada |
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Perfilómetro |
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Para materiales en película delgada |
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Espectrofotómetro UV/VIS/NIR |
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Para materiales en película delgada |
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Espectrofotómetro UV/VIS/NIR |
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Para materiales en película delgada |
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Planta de evaporación térmica |
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Para materiales metálicos y compuestos semiconductores |
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Planta de evaporación térmica |
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Para materiales metálicos y compuestos semiconductores |
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Planta de pulverización catódica |
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Para metales y óxidos conductores transparentes |
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Planta de pulverización catódica |
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Para metales y óxidos conductores transparentes |
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Sistema de determinación de propiedades eléctricas |
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Para materiales en película delgada |
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Sistema de determinación de propiedades eléctricas |
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Para materiales en película delgada |
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Planta de deposición química en vacío |
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Para compuestos de silicio |
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Planta de deposición química en vacío |
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Para compuestos de silicio |
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Perfilómetro |
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Para materiales en película delgada |
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Perfilómetro |
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Para materiales en película delgada |