91 - Laboratorio de Metrología y Metrotecnia
OPI: |
UPM |
Centro: |
E.T.S.I. Industriales |
Departamento: |
Física Aplicada a la Ingeniería Industrial |
|
Contacto: |
Jesús de Vicente y Oliva |
Dirección: |
C/ José Gutiérrez Abascal, 2 |
Código Postal: |
28006 |
Localidad: |
Madrid |
Teléfono: |
91 3363125 |
Fax: |
91 3363000 |
e-mail: |
lmm@etsii.upm.es |
web: |
faii.etsii.upm.es/dfaii/LMM/lmm.html |
Categoría: |
Reconocimiento Externo |
Reconocimiento: |
ENAC 3/LC037 |
Información adicional: |
El laboratorio de Metrología y Metrotecnia (LMM) de la Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales (Universidad Politécnica de Madrid) desempeña varias misiones, entre las que destacan:
* Docencia en metrología tanto para alumnos de la E.T.S. de Ingenieros Industriales como para otras titulaciones de la Universidad Politécnica de Madrid, en un curso anual de Doctorado, en cursos especiales para empresas, etc.
* Servicios a la industria, calibración de patrones e instrumentos, mediciones, verificaciones, asesoramiento en cuanto a organización de metrologías industriales, planes de calibración, métodos de medida, desarrollo de paquetes informáticos para metrología, etc.
* Investigación en metrología, procedimientos de calibración y medida, cálculo de incertidimbres, investigación básica en interferometría láser, calidad superficial, máquinas medidoras por coordenadas, etc.
El LMM se encuentra acreditado por ENAC como laboratorio de calibración en el área dimensional desde 1995 con la acreditación Nº 3. Anteriormente, poseía la calificación Nº 003/D.83 del SCI (SISTEMA DE CALIBRACIÓN INDUSTRIAL), desde 1983. |
Area
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Magnitud
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Instrumento
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Dimensional |
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Angulos |
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Bloques patrón angulares |
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Dimensional |
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Frecuencia |
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Laseres |
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Dimensional |
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Longitud |
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Bloques patrón longitudinales |
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Dimensional |
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Longitud |
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Medidoras por coordenadas |
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Dimensional |
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Rugosidad |
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Patrones de rugosidad |
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Nombre
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Rango
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Incer
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Observaciones
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Interferómetro absoluto |
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633 nm |
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- |
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Interferómetro absoluto |
|
633 nm |
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- |
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|
Medidora tres coordenadas |
|
(1.4x0.8x0.4) m |
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- |
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|
|
Medidora tres coordenadas |
|
(1.4x0.8x0.4) m |
|
- |
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Rugosímetro |
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(0-10) µm |
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- |
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Rugosímetro |
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(0-10) µm |
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- |
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Interferómetro absoluto |
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633 nm |
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- |
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Interferómetro absoluto |
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633 nm |
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Medidora tres coordenadas |
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(1.4x0.8x0.4) m |
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- |
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Medidora tres coordenadas |
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(1.4x0.8x0.4) m |
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- |
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Rugosímetro |
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(0-10) µm |
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- |
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Rugosímetro |
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(0-10) µm |
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- |
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74.3 |
|
Ensayos y análisis técnicos |
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74.3 |
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Ensayos y análisis técnicos |
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80 |
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Educación |
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80 |
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Educación |
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80.3 |
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Enseñanza superior |
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80.3 |
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Enseñanza superior |
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74.3 |
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Ensayos y análisis técnicos |
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74.3 |
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Ensayos y análisis técnicos |
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80 |
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Educación |
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Educación |
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80.3 |
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Enseñanza superior |
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80.3 |
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Enseñanza superior |
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D-19 |
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Tecnología láser |
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D-19 |
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Tecnología láser |
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E-11 |
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Fabricación |
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E-11 |
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Fabricación |
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E-37 |
|
Control, aseguramiento de la calidad |
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E-37 |
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Control, aseguramiento de la calidad |
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E-47 |
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Mecanismos e instrumentos |
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E-47 |
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Mecanismos e instrumentos |
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H-07 |
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Ingeniería industrial |
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Ingeniería industrial |
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D-19 |
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Tecnología láser |
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D-19 |
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Tecnología láser |
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E-11 |
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Fabricación |
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E-11 |
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Fabricación |
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E-37 |
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Control, aseguramiento de la calidad |
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Control, aseguramiento de la calidad |
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E-47 |
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Mecanismos e instrumentos |
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Mecanismos e instrumentos |
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H-07 |
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Ingeniería industrial |
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H-07 |
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Ingeniería industrial |
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