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Microtomografía computacional de Rayos X |
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Fuente de rayos-X de 160 kV. Resolución 0.2 µm. |
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- |
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Una amplia gama de materiales desde metálicos hasta polímeros. |
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Microtomografía computacional de Rayos X |
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Fuente de rayos-X de 160 kV. Resolución 0.2 µm. |
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Una amplia gama de materiales desde metálicos hasta polímeros. |
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Microscopía electrónica de barrido (SEM) - ZEISS EVO MA15 |
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Hasta 100000x de magnificación. |
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- |
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Incluye espectroscopia de energías dispersiva (EDS) |
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Microscopía electrónica de barrido (SEM) - ZEISS EVO MA15 |
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Hasta 100000x de magnificación. |
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- |
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Incluye espectroscopia de energías dispersiva (EDS) |
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Microscopía electrónica de barrido (FEGSEM) - FEI Helios 600i |
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Alta resolución, hasta 1000000x de magnificación. |
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SEM de alta resolución con fuente de iones enfocados (FIB). Incluye EDS y EBSD. |
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Microscopía electrónica de barrido (FEGSEM) - FEI Helios 600i |
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Alta resolución, hasta 1000000x de magnificación. |
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SEM de alta resolución con fuente de iones enfocados (FIB). Incluye EDS y EBSD. |
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Microscopía óptica - Olympus BX-51 |
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Software de procesado de imágenes. |
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Microscopía óptica - Olympus BX-51 |
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Software de procesado de imágenes. |
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Microscopía de fuerza atómica (AFM) - Park XE150 |
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Escala nanométrica. |
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Microscopía magnética y térmica, nanolitografía y medidas a alta temperatura hasta 250 ºC. |
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Microscopía de fuerza atómica (AFM) - Park XE150 |
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Escala nanométrica. |
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- |
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Microscopía magnética y térmica, nanolitografía y medidas a alta temperatura hasta 250 ºC. |
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Nanoindentación Instrumentada - Hysitron Triboindenter TI950 |
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Máxima resolución de carga, 1 nN |
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- |
|
Medidas dinámicas, ensayos de rayado y desgaste y obtención de imágenes de SPM y mapas de módulo elástico con la propia punta de indentación. |
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Nanoindentación Instrumentada - Hysitron Triboindenter TI950 |
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Máxima resolución de carga, 1 nN |
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- |
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Medidas dinámicas, ensayos de rayado y desgaste y obtención de imágenes de SPM y mapas de módulo elástico con la propia punta de indentación. |
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Micromaterials Nanotest |
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Rango de fuerza de 750 mN. Ensayos a 750ºC. |
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- |
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Nanoindentaciones de alta temperatura con una alta estabilidad. |
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Micromaterials Nanotest |
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Rango de fuerza de 750 mN. Ensayos a 750ºC. |
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- |
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Nanoindentaciones de alta temperatura con una alta estabilidad. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Tracción-compresión |
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Capacidad de carga de 10 kN a temperaturas de 600ºC |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos de tracción/compresión para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Tracción-compresión |
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Capacidad de carga de 10 kN a temperaturas de 600ºC |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos de tracción/compresión para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Fibras |
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Resolución de carga de 1 µN, hasta un rango de 1 N. |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Fibras |
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Resolución de carga de 1 µN, hasta un rango de 1 N. |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, µTM |
|
Capacidad de carga de 2 kN. |
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- |
|
Puede ser utilizada, tanto bajo radiación sincrotrón o en sistemas de tomografía de laboratorio. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, µTM |
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Capacidad de carga de 2 kN. |
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- |
|
Puede ser utilizada, tanto bajo radiación sincrotrón o en sistemas de tomografía de laboratorio. |
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Microscopía electrónica de transmisión y barrido (FEG(S)TEM) - FEI Talos F200X |
|
Alta resolución, 200 kV, hasta < 0.12 nm |
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- |
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TEM de alta resolución con EDS y tomografía |
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Microscopía electrónica de transmisión y barrido (FEG(S)TEM) - FEI Talos F200X |
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Alta resolución, 200 kV, hasta < 0.12 nm |
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- |
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TEM de alta resolución con EDS y tomografía |
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Nanoindentador in-situ para el SEM - Hysitron PI87HLHT
Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
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Rango de carga: 150 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm
Temperatura hasta 800ºC |
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- |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del SEM |
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Nanoindentador in-situ para el SEM - Hysitron PI87HLHT
Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
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Rango de carga: 150 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm
Temperatura hasta 800ºC |
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- |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del SEM |
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Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
|
Rango de carga: 1 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm |
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- |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del TEM |
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Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
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Rango de carga: 1 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm |
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- |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del TEM |
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Microtomografía computacional de Rayos X |
|
Fuente de rayos-X de 160 kV. Resolución 0.2 µm. |
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- |
|
Una amplia gama de materiales desde metálicos hasta polímeros. |
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Microtomografía computacional de Rayos X |
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Fuente de rayos-X de 160 kV. Resolución 0.2 µm. |
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|
Una amplia gama de materiales desde metálicos hasta polímeros. |
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Microscopía electrónica de barrido (SEM) - ZEISS EVO MA15 |
|
Hasta 100000x de magnificación. |
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- |
|
Incluye espectroscopia de energías dispersiva (EDS) |
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Microscopía electrónica de barrido (SEM) - ZEISS EVO MA15 |
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Hasta 100000x de magnificación. |
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- |
|
Incluye espectroscopia de energías dispersiva (EDS) |
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Microscopía electrónica de barrido (FEGSEM) - FEI Helios 600i |
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Alta resolución, hasta 1000000x de magnificación. |
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SEM de alta resolución con fuente de iones enfocados (FIB). Incluye EDS y EBSD. |
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Microscopía electrónica de barrido (FEGSEM) - FEI Helios 600i |
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Alta resolución, hasta 1000000x de magnificación. |
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SEM de alta resolución con fuente de iones enfocados (FIB). Incluye EDS y EBSD. |
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Microscopía óptica - Olympus BX-51 |
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Software de procesado de imágenes. |
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Microscopía óptica - Olympus BX-51 |
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|
Software de procesado de imágenes. |
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Microscopía de fuerza atómica (AFM) - Park XE150 |
|
Escala nanométrica. |
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- |
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Microscopía magnética y térmica, nanolitografía y medidas a alta temperatura hasta 250 ºC. |
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Microscopía de fuerza atómica (AFM) - Park XE150 |
|
Escala nanométrica. |
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Microscopía magnética y térmica, nanolitografía y medidas a alta temperatura hasta 250 ºC. |
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Nanoindentación Instrumentada - Hysitron Triboindenter TI950 |
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Máxima resolución de carga, 1 nN |
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Medidas dinámicas, ensayos de rayado y desgaste y obtención de imágenes de SPM y mapas de módulo elástico con la propia punta de indentación. |
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Nanoindentación Instrumentada - Hysitron Triboindenter TI950 |
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Máxima resolución de carga, 1 nN |
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Medidas dinámicas, ensayos de rayado y desgaste y obtención de imágenes de SPM y mapas de módulo elástico con la propia punta de indentación. |
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Micromaterials Nanotest |
|
Rango de fuerza de 750 mN. Ensayos a 750ºC. |
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- |
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Nanoindentaciones de alta temperatura con una alta estabilidad. |
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Micromaterials Nanotest |
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Rango de fuerza de 750 mN. Ensayos a 750ºC. |
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- |
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Nanoindentaciones de alta temperatura con una alta estabilidad. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Tracción-compresión |
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Capacidad de carga de 10 kN a temperaturas de 600ºC |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos de tracción/compresión para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Tracción-compresión |
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Capacidad de carga de 10 kN a temperaturas de 600ºC |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos de tracción/compresión para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Fibras |
|
Resolución de carga de 1 µN, hasta un rango de 1 N. |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, Fibras |
|
Resolución de carga de 1 µN, hasta un rango de 1 N. |
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- |
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Una micromáquina de ensayos mecánicos para la realización de ensayos en el microscopio electrónico de barrido. |
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Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, µTM |
|
Capacidad de carga de 2 kN. |
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- |
|
Puede ser utilizada, tanto bajo radiación sincrotrón o en sistemas de tomografía de laboratorio. |
|
Micromáquina de ensayo mecánico in-situ, µTM |
|
Capacidad de carga de 2 kN. |
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- |
|
Puede ser utilizada, tanto bajo radiación sincrotrón o en sistemas de tomografía de laboratorio. |
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Microscopía electrónica de transmisión y barrido (FEG(S)TEM) - FEI Talos F200X |
|
Alta resolución, 200 kV, hasta < 0.12 nm |
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|
TEM de alta resolución con EDS y tomografía |
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Microscopía electrónica de transmisión y barrido (FEG(S)TEM) - FEI Talos F200X |
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Alta resolución, 200 kV, hasta < 0.12 nm |
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|
TEM de alta resolución con EDS y tomografía |
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Nanoindentador in-situ para el SEM - Hysitron PI87HLHT
Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
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Rango de carga: 150 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm
Temperatura hasta 800ºC |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del SEM |
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Nanoindentador in-situ para el SEM - Hysitron PI87HLHT
Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
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Rango de carga: 150 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm
Temperatura hasta 800ºC |
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- |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del SEM |
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Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
|
Rango de carga: 1 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm |
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- |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del TEM |
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Nanoindentador in-situ para el TEM - Hysitron PI95 |
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Rango de carga: 1 mN Resolución: < 1 nN y < 0.1 nm |
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Nanoindentador in-situ para la realización de ensayos nanomecánicos dentro del TEM |